參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.粒徑分布：測量范圍10nm-3mm，分辨率1nm（D50值）
2.比表面積：BET法測定精度3%，孔徑分析范圍0.35-500nm
3.形貌特征：SEM/TEM成像分辨率≤1nm（二次電子模式）
4.Zeta電位：測量范圍200mV，溫度控制0.1℃
5.團(tuán)聚指數(shù)：基于動態(tài)光散射法測定PDI值≤0.7

檢測范圍

1.納米材料：碳納米管、量子點、金屬氧化物納米顆粒
2.金屬粉末：316L不銹鋼粉、鈦合金粉（粒徑≤45μm）
3.陶瓷材料：氧化鋁微珠、氮化硅粉體（純度≥99.9%）
4.高分子微粒：PLGA微球、聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)顆粒
5.生物制劑：脂質(zhì)體載藥系統(tǒng)、疫苗佐劑微粒

檢測方法

1.ASTMB822-20金屬粉末粒度激光衍射法
2.ISO13320:2020粒度分析-激光衍射通用原則
3.GB/T19077-2016粒度分布-激光衍射法
4.ISO9277:2010BET法比表面測定技術(shù)規(guī)范
5.GB/T19627-2005粒度分析-光子相關(guān)光譜法

檢測設(shè)備

1.馬爾文Mastersizer3000：激光衍射粒度儀，量程0.01-3500μm
2.布魯諾爾Emperor3000：全自動比表面及孔隙度分析儀
3.日立SU9000場發(fā)射電鏡：分辨率0.4nm@15kV（STEM模式）
4.貝克曼DelsaMaxPro：動態(tài)/靜態(tài)光散射聯(lián)用Zeta電位儀
5.安捷倫8900ICP-MS：元素分析檢出限≤ppt級
6.QuantachromeAutosorb-iQ：物理吸附儀（77K低溫系統(tǒng)）
7.麥奇克BI-200SM：廣角動靜態(tài)光散射系統(tǒng)
8.FEITalosF200X：透射電鏡配備超快能譜儀
9.島津SALD-7500nano：納米粒度分析儀（干濕兩用）
10.MicromeriticsGeoPyc1365：真密度分析儀（氣體置換法）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)