參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑精度：測(cè)量實(shí)際孔徑與標(biāo)稱(chēng)值的偏差范圍（0.02mm）
2.位置度誤差：評(píng)估孔中心與理論位置的偏移量（≤0.05mm）
3.圓度公差：采用最小二乘法計(jì)算最大輪廓偏差（≤0.03mm）
4.表面粗糙度：通過(guò)Ra值量化加工面質(zhì)量（Ra0.8-3.2μm）
5.深度一致性：測(cè)量多孔結(jié)構(gòu)的軸向尺寸差異（0.1mm）

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：鋁合金/鈦合金精密加工件
2.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物結(jié)構(gòu)件
3.電子元件：PCB板過(guò)孔及連接器定位孔
4.汽車(chē)零部件：發(fā)動(dòng)機(jī)缸體油道孔及變速箱定位孔
5.航空航天部件：渦輪葉片冷卻孔及機(jī)身鉚接孔

檢測(cè)方法

1.ASTME3-11金屬材料金相分析法
2.ISO1101:2017幾何公差規(guī)范
3.GB/T1800.2-2020產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）
4.ISO4287:1997表面粗糙度評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)
5.GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（形狀和位置公差）

檢測(cè)設(shè)備

1.MitutoyoCMM544三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（三維尺寸測(cè)量）
2.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式影像測(cè)量系統(tǒng)（亞微米級(jí)形位公差分析）
3.TaylorHobsonFormTalysurfPGI1240輪廓儀（納米級(jí)粗糙度檢測(cè)）
4.KeyenceIM-8000系列光學(xué)投影儀（快速孔徑批量檢測(cè)）
5.HexagonAbsoluteArm7軸激光掃描系統(tǒng)（復(fù)雜曲面孔位測(cè)繪）
6.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡（微孔結(jié)構(gòu)顯微分析）
7.MarSurfCMExplorer接觸式粗糙度儀（Ra/Rz多參數(shù)測(cè)量）
8.WerthVideoCheckUA多傳感器測(cè)量機(jī)（多材質(zhì)部件復(fù)合檢測(cè)）
9.NikonXTH450工業(yè)CT掃描系統(tǒng)（內(nèi)部隱蔽孔道三維重構(gòu)）
10.RenishawPH20五軸觸發(fā)測(cè)頭系統(tǒng)（動(dòng)態(tài)高速孔位測(cè)量）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)