參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.鉑含量測定：采用ICP-OES法測定Pt含量（0.3%-0.6%），精度0.02wt%
2.比表面積分析：BET法測試（150-300m/g），孔徑分布范圍1-10nm
3.金屬分散度評估：CO化學(xué)吸附法測定分散度（40-80%）
4.熱穩(wěn)定性測試：程序升溫還原（TPR）分析還原峰溫度（200-400℃）
5.抗積碳性能：熱重分析（TGA）測定積碳量（≤5wt%）

檢測范圍

1.氧化鋁基低鉑重整催化劑
2.分子篩基復(fù)合載體催化劑
3.納米結(jié)構(gòu)鉑-錫雙金屬催化劑
4.硫耐受型改性催化劑
5.高溫重整專用催化劑

檢測方法

1.ASTMD5185：電感耦合等離子體發(fā)射光譜法
2.ISO9277：靜態(tài)容量法比表面積測定
3.GB/T19587：氣體吸附BET法實施規(guī)范
4.GB/T21650.3：壓汞法孔結(jié)構(gòu)分析
5.ISO22821：程序升溫還原技術(shù)規(guī)程

檢測設(shè)備

1.ThermoScientificiCAPPROXPS：X射線光電子能譜儀（表面元素分析）
2.MicromeriticsASAP2460：全自動比表面及孔隙度分析儀
3.PerkinElmerOptima8300：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
4.NetzschSTA449F5Jupiter：同步熱分析儀（TGA-DSC聯(lián)用）
5.QuantachromeChemBETPulsarTPR/TPD：化學(xué)吸附分析系統(tǒng)
6.MalvernPanalyticalEmpyrean：X射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)表征）
7.JEOLJEM-2100F：場發(fā)射透射電子顯微鏡（納米級形貌觀測）
8.BrukerD8ADVANCE：X射線熒光光譜儀（元素快速篩查）
9.Agilent7890B：氣相色譜儀（產(chǎn)物組成分析）
10.AntonPaarPSA1190：動態(tài)化學(xué)吸附儀（金屬分散度測定）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)