參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.主成分含量：MoO?純度≥99.5%，采用差減法計(jì)算非揮發(fā)性雜質(zhì)總和
2.雜質(zhì)元素：Fe≤50ppm、Ni≤30ppm、Cu≤20ppm（ICP-MS定量限0.01ppm）
3.粒度分布：D50值5-15μm（激光衍射法），跨度系數(shù)≤1.8
4.比表面積：BET法測定值0.5-3.0m/g（N?吸附等溫線）
5.晶體結(jié)構(gòu)：α相占比≥98%（XRD半定量分析）

檢測范圍

1.工業(yè)級(jí)五氧化鉬粉末（冶金還原原料）
2.催化劑載體材料（V-Mo-Ti系脫硝催化劑）
3.電子陶瓷基體原料（MLCC介質(zhì)層前驅(qū)體）
4.金屬合金添加劑（鉬鐵合金母料）
5.高純?cè)噭?9.99%半導(dǎo)體級(jí)MoO?）

檢測方法

1.X射線熒光光譜法（ASTME1621-13測定主量元素）
2.電感耦合等離子體質(zhì)譜法（GB/T23942-2009痕量元素分析）
3.激光粒度分析法（ISO13320:2020顆粒尺寸分布測試）
4.X射線衍射定量相分析（GB/T30704-2014晶體結(jié)構(gòu)鑒定）
5.熱重-差熱聯(lián)合分析法（GB/T13464-2008熱穩(wěn)定性評(píng)價(jià)）

檢測設(shè)備

1.RigakuZSXPrimusIV波長色散X射線熒光光譜儀（主成分快速篩查）
2.ThermoScientificiCAPRQ電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ppb級(jí)雜質(zhì)檢測）
3.MalvernMastersizer3000激光粒度分析儀（濕法分散測試模塊）
4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（Cu靶Kα輻射源）
5.MicromeriticsASAP2460比表面及孔隙度分析儀（四站式脫氣系統(tǒng)）
6.NetzschSTA449F5同步熱分析儀（TG-DSC聯(lián)用技術(shù)）
7.Agilent725ICP-OES光譜儀（多元素同步測定）
8.ShimadzuEDX-7000能量色散光譜儀（無標(biāo)樣半定量分析）
9.MettlerToledoTGA/DSC3+熱重分析儀（超微量樣品測試）
10.HoribaLA-960納米粒度分析儀（動(dòng)態(tài)光散射模式）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)