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數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)檢測(cè)

2025-05-19 關(guān)鍵詞:數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)測(cè)試范圍,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)測(cè)試儀器,數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)測(cè)試周期 相關(guān):
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)檢測(cè)

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.信號(hào)精度驗(yàn)證:測(cè)量誤差≤0.05%FS(全量程),涵蓋DC-100kHz頻段2.采樣率穩(wěn)定性測(cè)試:最大采樣率偏差≤1MS/s標(biāo)稱值的0.01%3.通道間隔離度檢測(cè):≥120dB@1kHz測(cè)試頻率4.溫度漂移特性:工作溫度-40℃~85℃范圍內(nèi)偏移量<5ppm/℃5.共模抑制比(CMRR):≥90dB@50Hz工頻干擾檢測(cè)范圍1.工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域:PLC數(shù)據(jù)采集模塊、SCADA系統(tǒng)前端單元2.汽車電子系統(tǒng):車載CAN總線采集器、OBD-II診斷模塊3.醫(yī)療監(jiān)測(cè)設(shè)備:多導(dǎo)生理信號(hào)采集系統(tǒng)(ECG/E

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.信號(hào)精度驗(yàn)證:測(cè)量誤差≤0.05%FS(全量程),涵蓋DC-100kHz頻段
2.采樣率穩(wěn)定性測(cè)試:最大采樣率偏差≤1MS/s標(biāo)稱值的0.01%
3.通道間隔離度檢測(cè):≥120dB@1kHz測(cè)試頻率
4.溫度漂移特性:工作溫度-40℃~85℃范圍內(nèi)偏移量<5ppm/℃
5.共模抑制比(CMRR):≥90dB@50Hz工頻干擾

檢測(cè)范圍

1.工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域:PLC數(shù)據(jù)采集模塊、SCADA系統(tǒng)前端單元
2.汽車電子系統(tǒng):車載CAN總線采集器、OBD-II診斷模塊
3.醫(yī)療監(jiān)測(cè)設(shè)備:多導(dǎo)生理信號(hào)采集系統(tǒng)(ECG/EEG/EMG)
4.環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器:大氣顆粒物傳感器陣列、水質(zhì)多參數(shù)采集終端
5.科研實(shí)驗(yàn)裝置:高速動(dòng)態(tài)信號(hào)記錄儀(≥1GHz帶寬)

檢測(cè)方法

1.ASTME207-2016標(biāo)準(zhǔn):溫度漂移特性測(cè)試規(guī)程
2.ISO16300-3:2018:數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能評(píng)估方法
3.GB/T18268.1-2010:測(cè)量控制設(shè)備電磁兼容性試驗(yàn)規(guī)范
4.IEC61000-4系列:工業(yè)環(huán)境抗干擾能力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
5.GB/T17626.6-2017:射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)

檢測(cè)設(shè)備

1.Keysight34972A數(shù)據(jù)采集器:支持64通道同步采樣,24位分辨率
2.Fluke6100A電能標(biāo)準(zhǔn)源:提供0.02級(jí)精度功率信號(hào)輸出
3.TektronixAFG31000函數(shù)發(fā)生器:最高輸出頻率250MHz
4.Chroma8000系列可編程交直流電源:電壓波動(dòng)模擬20%
5.R&SFSW67頻譜分析儀:分析帶寬510MHz~67GHz
6.EMTESTUCS500N雷擊浪涌發(fā)生器:8/20μs波形模擬
7.ESPECPL-3KPH氣候箱:溫控精度0.5℃
8.OmicronLabBode100頻響分析儀:10mHz~50MHz掃頻測(cè)試
9.NIPXIe-5164數(shù)字化儀:14位ADC,5GS/s采樣率
10.HIOKIPW8001高精度功率分析儀:基本精度0.02%rdg

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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