參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.五氧化二釩（V?O?）含量測(cè)定：采用X射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定主成分含量范圍45%-70%
2.雜質(zhì)元素分析：包括鐵（Fe≤3%）、硅（SiO?≤5%）、硫（S≤0.5%）、磷（P≤0.1%）等
3.礦物相鑒定：通過(guò)X射線衍射（XRD）確定釩鈦磁鐵礦（FeV?O?）、釩云母等礦物組成
4.水分及揮發(fā)物測(cè)定：105℃恒重法控制水分含量≤1.5%
5.粒度分布測(cè)試：激光粒度儀分析80%顆粒通過(guò)200目篩

檢測(cè)范圍

1.水釩礦原礦及精礦
2.釩鈦磁鐵礦冶煉中間產(chǎn)品
3.含釩工業(yè)催化劑
4.釩酸銨生產(chǎn)原料
5.含釩廢水處理劑

檢測(cè)方法

1.GB/T6730.28-2021《鐵礦石化學(xué)分析方法五氧化二釩含量的測(cè)定》
2.ASTMD4294-16《硫含量的能量色散X射線熒光光譜法》
3.ISO9516-1:2022《鐵礦石中硅、鈣等的XRF測(cè)定》
4.GB/T14506.30-2019《硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法電感耦合等離子體發(fā)射光譜法》
5.ISO13320:2020《激光衍射法粒度分析通則》

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificARLPERFORM'XX射線熒光光譜儀：主量元素定量分析
2.PANalyticalEmpyreanX射線衍射儀：礦物晶體結(jié)構(gòu)鑒定
3.PerkinElmerAvio550ICP-OES：痕量元素精確測(cè)定
4.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：顆粒尺寸分布測(cè)試
5.MettlerToledoHB43-S鹵素水分測(cè)定儀：快速水分含量分析
6.BrukerS8TIGER波長(zhǎng)色散型XRF：高精度多元素同步檢測(cè)
7.ShimadzuEDX-7000能量色散型XRF：現(xiàn)場(chǎng)快速篩查
8.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：揮發(fā)物與熱穩(wěn)定性測(cè)試
9.Agilent7900ICP-MS：超痕量重金屬元素分析
10.ZeissEVOMA15掃描電鏡：微觀形貌與能譜聯(lián)用分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)