參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.平均孔徑測(cè)定：測(cè)量范圍0.01-500μm，精度0.5%

2.孔隙率分析：分辨率0.1vol%，適用密度2-20g/cm材料

3.孔徑分布統(tǒng)計(jì)：支持多峰分布擬合算法

4.連通孔隙比例：三維重構(gòu)精度達(dá)0.1μm體素

5.表面粗糙度關(guān)聯(lián)分析：Ra值測(cè)量范圍0.05-10μm

檢測(cè)范圍

1.金屬基復(fù)合材料：包括鋁合金/碳化硅復(fù)合材料、鈦基多孔合金

2.陶瓷燒結(jié)體：氧化鋁結(jié)構(gòu)陶瓷、氮化硅功能陶瓷

3.粉末冶金制品：含油軸承、金屬過濾元件

4.高分子復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料(CFRP)、玻璃纖維層壓板

5.地質(zhì)巖石樣本：頁(yè)巖孔隙結(jié)構(gòu)分析、砂巖滲透率關(guān)聯(lián)研究

檢測(cè)方法

1.ASTME112-13：金相法測(cè)定金屬材料晶粒度與孔隙特征

2.ISO2738:1999：燒結(jié)金屬材料開孔率測(cè)定規(guī)范

3.GB/T21650.1-2008：壓汞法測(cè)定固體材料孔徑分布

4.ASTMD4404-18：X射線CT掃描法三維孔隙分析

5.GB/T34533-2017：頁(yè)巖氣儲(chǔ)層掃描電鏡孔隙表征方法

檢測(cè)設(shè)備

1.蔡司Sigma500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：配備EDS能譜儀，分辨率0.8nm@15kV

2.賽默飛HeliScanmicroCT系統(tǒng)：空間分辨率0.5μm，最大樣品尺寸100mm

3.麥克AutoPoreV9600壓汞儀：壓力范圍0.1-60000psi

4.島津EPMA-8050G電子探針：波譜儀分辨率5eV

5.布魯克D8ADVANCEX射線衍射儀：配備孔隙分析模塊

6.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000萬(wàn)像素三維表面重建

7.安東帕Ultrapyc5000真密度儀：氦氣置換法測(cè)開閉孔率

8.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：濕法分散孔徑關(guān)聯(lián)分析

9.FEIScios雙束電鏡系統(tǒng)：FIB-SEM三維斷層掃描重構(gòu)

10.NetzschDIL402C熱膨脹儀：高溫?zé)Y(jié)過程孔隙演變監(jiān)測(cè)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)