參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.空間分辨率：采用線對(duì)卡測試，要求≥4.0lp/mm（線對(duì)/毫米）
2.對(duì)比度靈敏度：使用階梯孔型試塊驗(yàn)證，靈敏度閾值≤2.0%
3.劑量率穩(wěn)定性：連續(xù)工作30分鐘時(shí)劑量率波動(dòng)≤5%
4.圖像均勻性：中心區(qū)域與邊緣區(qū)域的灰度值差異≤10%
5.幾何畸變率：采用網(wǎng)格板測試，邊緣畸變率≤1.5%

檢測范圍

1.金屬鑄件與焊接結(jié)構(gòu)（鋁合金/鈦合金/鋼結(jié)構(gòu)）
2.復(fù)合材料層壓板（碳纖維/玻璃纖維增強(qiáng)材料）
3.電子元器件封裝結(jié)構(gòu)（BGA/CSP芯片封裝）
4.生物醫(yī)學(xué)植入物（人工關(guān)節(jié)/牙科種植體）
5.航空航天緊固件（高強(qiáng)螺栓/鉚釘組件）

檢測方法

1.ASTME94-23：工業(yè)射線照相檢測標(biāo)準(zhǔn)指南
2.ISO17636-2:2022：焊縫無損檢測-數(shù)字探測器系統(tǒng)要求
3.GB/T21355-2022：無損檢測-X射線數(shù)字成像系統(tǒng)特性測試
4.ASTME2597-23：數(shù)字探測器陣列性能評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)
5.GB9706.14-2023：醫(yī)用電氣設(shè)備X射線發(fā)生器安全專用要求

檢測設(shè)備

1.YXLONFF20CT：微焦點(diǎn)射線源（160kV/300W），分辨率達(dá)5μm
2.GEInspectionTechnologiesPhoenixv|tome|xL450：450kV納米焦點(diǎn)CT系統(tǒng)
3.VarexXRD4343CNT：非晶硅平板探測器（4343cm,200μm像素）
4.HamamatsuC7943CA-02：動(dòng)態(tài)平板探測器（120fps幀頻）
5.CometYxlonSmart300：定向周向X射線機(jī)（300kV雙焦點(diǎn)）
6.NorthStarImagingX5000：數(shù)字探測器陣列（16bit灰度深度）
7.PerkinElmerXRD0822：碘化銫平板探測器（200μm像素間距）
8.RigakuCTLabHX：高能微焦點(diǎn)CT系統(tǒng)（225kV/顯微放大）
9.WaygateTechnologiesPantherPro：便攜式DR成像系統(tǒng)（IP67防護(hù)）
10.ShimadzuSMX-225CT：微焦點(diǎn)X射線透視系統(tǒng)（225kV/3D重構(gòu)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)