參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.黑邊寬度測(cè)量：精度0.01mm，測(cè)量范圍0.1-5.0mm
2.邊緣色差分析：ΔE≤1.5（CIELab標(biāo)準(zhǔn)）
3.涂層均勻性檢測(cè)：厚度偏差≤5μm
4.異物殘留檢查：分辨率≥10μm顆粒識(shí)別
5.邊緣直線度評(píng)估：允許公差0.05mm/m

檢測(cè)范圍

1.顯示屏面板邊框涂層
2.光學(xué)薄膜切割邊緣
3.玻璃制品磨削斷面
4.注塑件分型線區(qū)域
5.金屬鍍層過渡區(qū)

檢測(cè)方法

1.ASTMD2244-22色差儀器測(cè)量法
2.ISO4287-1997表面輪廓接觸式測(cè)量
3.GB/T9754-2007鏡面光澤度測(cè)定法
4.ISO25178-2:2022非接觸式三維形貌分析
5.GB/T13962-2009光學(xué)儀器成像分析法

檢測(cè)設(shè)備

1.柯尼卡美能達(dá)CM-2600d分光測(cè)色儀：色差ΔE值測(cè)量
2.KeyenceVHX-7000數(shù)碼顯微鏡：500倍微觀形貌分析
3.MitutoyoSJ-410輪廓儀：接觸式表面粗糙度檢測(cè)
4.ZeissO-Inspect322復(fù)合式測(cè)量機(jī)：三維尺寸精密計(jì)量
5.OlympusDSX1000工業(yè)顯微鏡：10μm級(jí)異物識(shí)別
6.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：納米級(jí)表面拓?fù)錅y(cè)量
7.HexagonOptivPerformance影像測(cè)量?jī)x：0.8μm重復(fù)精度
8.ThermoScientificPrismaESEM：微區(qū)成分分析
9.HitachiTM4000桌面電鏡：500倍率表面缺陷觀測(cè)
10.NikonNEXIVVMZ-S3520視頻測(cè)量系統(tǒng)：自動(dòng)邊緣識(shí)別

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)