參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.色差系數(shù)（ΔE）：CIE1976標(biāo)準(zhǔn)下全視場色差值≤0.5
2.透射率均勻性：400-700nm波段內(nèi)局部偏差≤1.5%
3.面形精度：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm）
4.材料折射率偏差：dn/dλ≤0.0005@546.1nm
5.鍍膜層厚度誤差：AR膜層厚度公差2nm

檢測范圍

1.顯微鏡物鏡組：10至100油浸物鏡
2.高分辨率相機(jī)鏡頭：F1.4-F16變焦系統(tǒng)
3.激光擴(kuò)束系統(tǒng)：532/1064nm雙波長兼容鏡組
4.醫(yī)療內(nèi)窺鏡：直徑≤3mm微型復(fù)消色差透鏡
5.天文望遠(yuǎn)鏡：Φ300mm以上大口徑非球面組合鏡

檢測方法

ASTME387-19：光學(xué)傳遞函數(shù)測試規(guī)程
ISO10110-5:2015：表面缺陷等級評定標(biāo)準(zhǔn)
GB/T26331-2010：光譜透射率測試方法
ISO14997:2018：光學(xué)材料折射率溫度系數(shù)測定
GB/T1800.3-2020：真空鍍膜層厚度X射線熒光法

檢測設(shè)備

1.PerkinElmerLambda1050+分光光度計(jì)：380-2500nm全波段透射分析
2.ZygoVerifireHD激光干涉儀：λ/1000級面形精度測量
3.MitutoyoCMM三次元測量機(jī)：0.8μm幾何尺寸驗(yàn)證
4.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：納米級鍍膜厚度分析
5.OlympusBX53微分干涉顯微鏡：2000表面缺陷觀測
6.OptikosMTFBench光學(xué)傳遞函數(shù)儀：50lp/mm空間頻率測試
7.AgilentCary7000紫外可見近紅外分光光度計(jì)：反射/透射同步測量
8.SCHOTTKERASILHT高溫折射率測試系統(tǒng)：20-300℃溫控精度0.1℃
9.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡：4K級邊緣崩邊定量分析
10.ThermoScientificARLEQUINOX3000X射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)驗(yàn)證

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)