粒度試驗檢測摘要:檢測項目1.粒徑分布(測量范圍0.1-3500μm)2.D50值(中位粒徑)3.比表面積(BET法測量精度3%)4.顆粒形貌(球形度>0.8判定標準)5.孔隙率(壓汞法測量孔徑2nm-500μm)檢測范圍1.金屬粉末(增材制造用鈦合金粉體)2.陶瓷原料(氧化鋁研磨介質(zhì)顆粒)3.醫(yī)藥顆粒(緩釋制劑微球)4.水泥粉體(硅酸鹽水泥細度控制)5.環(huán)境粉塵(PM2.5大氣顆粒物監(jiān)測)檢測方法1.篩分法:ASTMB214-16《金屬粉末篩分標準》/GB/T6003.1-2012試驗篩2.激光衍射法:ISO13320:
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.粒徑分布(測量范圍0.1-3500μm)
2.D50值(中位粒徑)
3.比表面積(BET法測量精度3%)
4.顆粒形貌(球形度>0.8判定標準)
5.孔隙率(壓汞法測量孔徑2nm-500μm)
1.金屬粉末(增材制造用鈦合金粉體)
2.陶瓷原料(氧化鋁研磨介質(zhì)顆粒)
3.醫(yī)藥顆粒(緩釋制劑微球)
4.水泥粉體(硅酸鹽水泥細度控制)
5.環(huán)境粉塵(PM2.5大氣顆粒物監(jiān)測)
1.篩分法:ASTMB214-16《金屬粉末篩分標準》/GB/T6003.1-2012試驗篩
2.激光衍射法:ISO13320:2020《粒度分析激光衍射法》/GB/T19077.1-2008
3.動態(tài)光散射:ISO22412:2017《納米顆粒尺寸測量》
4.圖像分析法:ASTME2859-11《自動顆粒形態(tài)表征》
5.沉降法:GB/T6524-2003《金屬粉末粒度分布的測定》
1.馬爾文Mastersizer3000:激光衍射儀(0.01-3500μm)
2.貝克曼庫爾特LS13320XR:濕法/干法分散系統(tǒng)
3.HORIBALA-960V2:全自動激光粒度儀(10nm-5mm)
4.MicromeriticsTriStarIIPlus:比表面及孔隙度分析儀
5.FEIHeliosG4UX:場發(fā)射掃描電鏡(分辨率0.8nm)
6.BettersizeBT-9300ST:激光散射+圖像復合系統(tǒng)
7.SympatecHELOS/RODOS:氣溶膠粒度分析系統(tǒng)
8.ShimadzuSALD-7500nano:納米粒度分析儀(7nm-800μm)
9.QuantachromeAutosorb-iQ:全自動物理吸附儀
10.MalvernZetasizerUltra:動態(tài)光散射納米粒度儀
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
中析粒度試驗檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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