參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.絮凝效率測(cè)定：量化單位時(shí)間內(nèi)顆粒去除率（%），測(cè)試條件含pH4-10梯度變化

2.沉降速度分析：記錄0-60min時(shí)段內(nèi)沉降層高度變化（mm/min），精度0.1mm

3.粒徑分布測(cè)試：采用激光衍射法測(cè)定D10/D50/D90值（μm級(jí)），量程0.02-2000μm

4.Zeta電位測(cè)量：電泳光散射法測(cè)定表面電荷（mV級(jí)），溫度控制0.1℃

5.濁度去除率：依據(jù)NTU標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定處理前后濁度值差（0-1000NTU范圍）

檢測(cè)范圍

1.水處理藥劑：聚合氯化鋁(PAC)、聚丙烯酰胺(PAM)等混凝劑性能驗(yàn)證

2.工業(yè)廢水體系：造紙廢水膠體、電鍍廢水金屬懸浮物處理評(píng)估

3.礦物懸浮液：高嶺土、碳酸鈣等礦漿固液分離效果測(cè)試

4.生物發(fā)酵液：菌體細(xì)胞與代謝產(chǎn)物的絮凝分離過(guò)程監(jiān)測(cè)

5.納米材料分散體系：碳納米管、二氧化硅納米顆粒穩(wěn)定性分析

檢測(cè)方法

ASTMD2035-13：混凝/絮凝瓶罐試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程（六聯(lián)程控?cái)嚢鑳x法）

ISO13317-3:2001：重力沉降法測(cè)定粒徑分布技術(shù)規(guī)范

GB/T13200-91：水質(zhì)-濁度的測(cè)定分光光度法

GB/T32668-2016：膠體Zeta電位測(cè)量通用方法

ISO13318-2:2007：離心沉降法顆粒粒徑分析標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

馬爾文ZetasizerNanoZSP：Zeta電位及納米粒度分析（0.3nm-10μm）

哈希DR3900分光光度計(jì)：濁度/色度多參數(shù)測(cè)定（波長(zhǎng)范圍340-900nm）

布魯克海文BI-200SM廣角光散射儀：動(dòng)態(tài)/靜態(tài)光散射同步測(cè)量

賽默飛Multisizer4e庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器：0.4-1600μm粒徑精確計(jì)數(shù)

梅特勒FE28-Std臺(tái)式pH計(jì)：自動(dòng)溫度補(bǔ)償型電極（精度0.001pH）

IKARCT基本型磁力攪拌器：數(shù)字控溫（室溫-300℃）1℃精度

島津AUW220D分析天平：0.01mg分辨率（最大稱量220g）

萊伯泰科Gravimat480沉降天平：連續(xù)記錄沉降質(zhì)量（采樣頻率10Hz）

安東帕Lovis2000ME微粘度計(jì)：微量樣品流變特性分析（樣品量＜1mL）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)