參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：SiO?含量（35-42%）、P?O?（18-25%）、SO?（4-8%）、CaO（20-28%）及微量元素（Fe、Mn、Sr≤0.5%）

2.晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)：晶胞常數(shù)a=9.35-9.42、c=6.88-6.92；空間群P6?/m；XRD特征峰強(qiáng)度比I(211)/I(112)=1.050.03

3.熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC聯(lián)用測(cè)定失重曲線（200-800℃區(qū)間失重率≤3%），相變溫度點(diǎn)（吸熱峰85010℃）

4.光學(xué)性能：折射率n?=1.630-1.635、n?=1.625-1.630；雙折射率Δ=0.0050.0003

5.力學(xué)性能：莫氏硬度4.5-5.0；密度2.85-2.95g/cm；抗壓強(qiáng)度≥120MPa

檢測(cè)范圍

1.地質(zhì)礦物標(biāo)本：火成巖/變質(zhì)巖中的原生/次生硅硫磷灰石礦物

2.工業(yè)原料：磷化工生產(chǎn)用含硫磷礦石原料及中間產(chǎn)物

3.陶瓷材料：生物活性陶瓷/電子陶瓷中的功能添加劑

4.環(huán)境樣品：土壤/沉積物中重金屬固定化載體材料

5.人工合成材料：水熱法/固相法合成的硅硫磷灰石粉體及單晶

檢測(cè)方法

ASTMD5380-14《X射線衍射定量分析方法》用于晶體結(jié)構(gòu)分析

ISO12782-3:2012《土壤質(zhì)量-提取法測(cè)定硫化物形態(tài)》規(guī)范硫含量測(cè)定

GB/T14506.30-2019《硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法》指導(dǎo)主量元素測(cè)試

GB/T17413.2-2010《鋰銣銫礦石化學(xué)分析方法》參照微量元素測(cè)定

ISO18118:2015《表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜法》用于表面成分表征

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalX'PertPROMPDX射線衍射儀：配備Cu-Kα輻射源（λ=1.5406），角度精度0.001

2.ThermoScientificARLPERFORM'XX射線熒光光譜儀：波長(zhǎng)色散型，元素檢測(cè)范圍B-U

3.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用系統(tǒng)，溫度范圍RT-1600℃，分辨率0.1μg

4.ShimadzuUV-2600i紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)：波長(zhǎng)范圍185-900nm，帶寬0.1/0.5/1/2/5nm可調(diào)

5.JEOLJSM-IT800掃描電鏡：配備OxfordX-MaxN80能譜儀，分辨率3nm@30kV

6.PerkinElmerOptima8300電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀：軸向觀測(cè)系統(tǒng)，檢出限ppb級(jí)

7.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：配備LYNXEYEXE-T探測(cè)器，掃描速度5000deg/min

8.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm，重復(fù)性誤差＜1%

9.AntonPaarMCR302流變儀：扭矩分辨率0.1nNm，法向力分辨率0.01N

10.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光譜儀：空間分辨率＜1μm，光譜范圍200-2100cm?

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)