電離層混濁儀檢測摘要:檢測項目1.電子密度剖面測量:垂直分辨率≤1km,量程10^9-10^12e/m2.離子溫度梯度分析:精度5K(100-3000K范圍)3.中性成分濃度檢測:O/N?比例誤差<3%4.等離子體漂移速度:三維矢量測量精度0.5m/s5.電離層吸收系數(shù):L波段損耗值0.2dB量化誤差檢測范圍1.衛(wèi)星通信設(shè)備電離層延遲校正2.航天器表面充電防護材料3.高頻雷達系統(tǒng)電離層反射特性4.極區(qū)電離層不規(guī)則體研究樣本5.地面電離層監(jiān)測站標定裝置檢測方法ASTME490-20a太陽光譜輻射基準校準ISO21348:2007
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.電子密度剖面測量:垂直分辨率≤1km,量程10^9-10^12e/m
2.離子溫度梯度分析:精度5K(100-3000K范圍)
3.中性成分濃度檢測:O/N?比例誤差<3%
4.等離子體漂移速度:三維矢量測量精度0.5m/s
5.電離層吸收系數(shù):L波段損耗值0.2dB量化誤差
1.衛(wèi)星通信設(shè)備電離層延遲校正
2.航天器表面充電防護材料
3.高頻雷達系統(tǒng)電離層反射特性
4.極區(qū)電離層不規(guī)則體研究樣本
5.地面電離層監(jiān)測站標定裝置
ASTME490-20a太陽光譜輻射基準校準
ISO21348:2007空間紫外線輻射測量規(guī)范
GB/T31159-2014電離層垂直探測技術(shù)要求
ITU-RP.1239建議書短波傳播預(yù)測模型
MIL-STD-188-114B通信系統(tǒng)電離層效應(yīng)評估
1.DigisondeDPS-4D數(shù)字式電離層測高儀(電子密度剖面探測)
2.KELAerospacePLASMA-900等離子體分析儀(離子成分定量)
3.StanfordResearchSystemsFS725銣原子鐘(時間同步基準)
4.EISCATUHF/ESR雷達系統(tǒng)(非相干散射探測)
5.LowellDIDBase數(shù)字電離圖數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)(數(shù)據(jù)比對分析)
6.VarianCary5000紫外-可見分光光度計(中性大氣成分分析)
7.NovatelOEM7系列GNSS接收機(電離層總電子含量反演)
8.KeysightN9041B信號分析儀(頻域擾動特征提?。?br/>9.Fabry-Perot干涉儀FPI-1200(熱層風(fēng)場與溫度測量)
10.LabSat3Wideband信號模擬器(傳播路徑仿真驗證)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析電離層混濁儀檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28