參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.平均粒徑（D50）：表征顆粒群中50%體積對應(yīng)的粒徑值（μm）
2.粒徑分布跨度：(D90-D10)/D50≤0.8為單分散體系
3.形狀系數(shù)：圓形度≥0.85（ISO13322-1:2014）
4.比表面積：BET法測定（0.1-1000m/g）
5.堆積密度：按GB/T16913-2008測定（g/cm）

檢測范圍

1.鑄造用砂：硅砂/鋯砂（AFS細(xì)度40-120）
2.陶瓷原料：高嶺土/石英粉（D97≤45μm）
3.石油壓裂砂：20/40目（425-850μm）
4.3D打印耗材：尼龍粉末（15-60μm）
5.研磨介質(zhì)：碳化硅微粉（F230-F2000）

檢測方法

1.激光衍射法：ASTMB822-20/MalvernMastersizer
2.動態(tài)圖像分析：ISO13322-2:2021/RetschCAMSIZER
3.篩分法：GB/T19077-2016/Φ200標(biāo)準(zhǔn)篩組
4.沉降法：GB/T6524-2003/安德森移液管
5.電子顯微鏡法：SEM/TEM納米級測量（ISO21363:2020）

檢測設(shè)備

1.馬爾文Mastersizer3000：0.01-3500μm激光粒度儀
2.貝克曼庫爾特LS13320：濕法/干法雙模系統(tǒng)
3.麥奇克Bettersize2600：全自動圖像粒度儀
4.RetschCAMSIZERX2：動態(tài)顆粒形態(tài)分析系統(tǒng)
5.島津SALD-7500nano：納米級粒度分析儀
6.精微高博JW-BK200C：比表面積測定儀
7.丹東百特BT-9300ST：激光散射沉降聯(lián)用儀
8.歐美克LS-C（ⅡA）：全量程激光粒度儀
9.真理光學(xué)Winner2308：干濕法兩用粒度儀
10.FEIQuanta650FEG：場發(fā)射掃描電鏡

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)