參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.轉(zhuǎn)速精度檢測(cè)：測(cè)量主軸實(shí)際轉(zhuǎn)速與設(shè)定值偏差（2%以?xún)?nèi)）
2.溫升測(cè)試：連續(xù)運(yùn)行4小時(shí)監(jiān)測(cè)軸承溫度（≤65℃）
3.振動(dòng)幅度分析：空載/負(fù)載狀態(tài)下X/Y/Z三軸振幅（≤0.15mm）
4.噪音水平測(cè)定：距設(shè)備1m處聲壓級(jí)（≤85dB(A)）
5.粉碎粒度分布：D50值偏差（5μm）及粒徑均勻性（CV≤15%）

檢測(cè)范圍

1.塑料顆粒：ABS/PC/PET等工程塑料破碎料
2.金屬粉末：鋁/銅/鈦合金超細(xì)粉體（50-500目）
3.食品添加劑：微晶纖維素/乳糖輔料預(yù)混物
4.化工原料：碳酸鈣/二氧化硅納米級(jí)粉體
5.中藥材：根莖類(lèi)/果實(shí)類(lèi)藥材粗破碎料

檢測(cè)方法

1.ASTME177-20《機(jī)械振動(dòng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程》
2.ISO3744:2010《聲學(xué)-噪聲源聲功率測(cè)定》
3.GB/T13301-2019《粉碎機(jī)械通用技術(shù)條件》
4.GB/T19077-2016《粒度分析-激光衍射法》
5.IEC60034-14:2018《旋轉(zhuǎn)電機(jī)振動(dòng)等級(jí)》

檢測(cè)設(shè)備

1.FLUKE438-II電能質(zhì)量分析儀：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電機(jī)功率/轉(zhuǎn)速
2.TES-52A精密聲級(jí)計(jì)：A/C計(jì)權(quán)噪聲頻譜分析
3.OMRONK3HB-XAD-A1振動(dòng)分析儀：三軸加速度測(cè)量（0.01-2000Hz）
4.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：0.01-3500μm粒徑分析
5.FLIRT865紅外熱像儀：-40C~150C溫度場(chǎng)掃描
6.HIOKILR8450數(shù)據(jù)記錄儀：32通道同步數(shù)據(jù)采集
7.ShimadzuAGX-X100kN萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：刀片剪切強(qiáng)度測(cè)試
8.KEYENCEVHX-7000數(shù)碼顯微鏡：破碎面形貌分析（5000倍）
9.B&K3053-B-040模態(tài)分析系統(tǒng)：結(jié)構(gòu)共振頻率測(cè)試
10.HBMPMX數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：動(dòng)態(tài)扭矩/功率同步測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)