參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑尺寸偏差：測(cè)量實(shí)際孔徑與標(biāo)稱值的差異范圍（0.05mm~0.5mm）
2.圓度誤差：采用最小二乘圓法評(píng)估（公差等級(jí)IT6~IT8）
3.垂直度偏差：軸線與基準(zhǔn)面夾角≤0.1
4.表面粗糙度：Ra值控制在0.8μm~3.2μm
5.倒角完整性：452倒角深度≥0.3mm

檢測(cè)范圍

1.金屬基體：鋁合金/鈦合金/不銹鋼精密孔道（φ3mm~φ50mm）
2.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料層間孔結(jié)構(gòu)
3.陶瓷材料：氧化鋯/氮化硅燒結(jié)體微孔（φ0.5mm~φ5mm）
4.高分子材料：PEEK/PTFE注塑成型通孔
5.精密電子元件：PCB過孔/連接器定位孔

檢測(cè)方法

1.ASTME3-11金相試樣制備標(biāo)準(zhǔn)（截面分析法）
2.ISO4287:1997表面粗糙度輪廓法測(cè)量規(guī)范
3.GB/T1800.2-2020產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范公差配合標(biāo)準(zhǔn)
4.ASMEB46.1-2019表面紋理測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
5.ISO1101:2017幾何公差標(biāo)注與驗(yàn)證規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalClassic三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（空間精度1.9+L/350μm）
2.NikonV12B光學(xué)投影儀（放大倍率50X~500X）
3.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀（分辨率0.01μm）
4.TaylorHobsonTalyrond385圓度儀（徑向精度0.025μm）
5.OlympusBX53M金相顯微鏡（最大倍率1000X）
6.ZEISSO-INSPECT復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)（CT掃描功能）
7.KeyenceVR-5000三維輪廓分析儀（Z軸分辨率10nm）
8.MarSurfLD260激光測(cè)徑儀（測(cè)量速度1000次/秒）
9.RenishawPH20五軸測(cè)座（動(dòng)態(tài)精度1μm）
10.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀（垂直分辨率0.1nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)