偏光顯微術(shù)檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.雙折射率測(cè)定:測(cè)量范圍0.001-0.300,精度0.00052.消光角分析:角度分辨率0.1,重復(fù)性誤差≤0.33.晶體形貌表征:空間分辨率0.5μm,放大倍數(shù)50-1000X4.應(yīng)力分布檢測(cè):靈敏度0.1nm/cm,測(cè)量區(qū)域≥10μm5.取向度測(cè)量:取向因子計(jì)算誤差≤2%,支持二維取向分布圖檢測(cè)范圍1.高分子材料:聚乙烯薄膜結(jié)晶度分析、聚丙烯纖維取向度測(cè)定2.礦物巖石:石英雙折射率測(cè)定、方解石晶體結(jié)構(gòu)表征3.液晶顯示材料:TFT-LCD盒厚測(cè)量精度0.05μm4.生物組織:膠原纖維排列方向
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.雙折射率測(cè)定:測(cè)量范圍0.001-0.300,精度0.0005
2.消光角分析:角度分辨率0.1,重復(fù)性誤差≤0.3
3.晶體形貌表征:空間分辨率0.5μm,放大倍數(shù)50-1000X
4.應(yīng)力分布檢測(cè):靈敏度0.1nm/cm,測(cè)量區(qū)域≥10μm
5.取向度測(cè)量:取向因子計(jì)算誤差≤2%,支持二維取向分布圖
1.高分子材料:聚乙烯薄膜結(jié)晶度分析、聚丙烯纖維取向度測(cè)定
2.礦物巖石:石英雙折射率測(cè)定、方解石晶體結(jié)構(gòu)表征
3.液晶顯示材料:TFT-LCD盒厚測(cè)量精度0.05μm
4.生物組織:膠原纖維排列方向分析誤差≤3
5.金屬合金:冷軋板材殘余應(yīng)力分布檢測(cè)
ASTME766-14(2020):偏光顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范
ISO8578:2017:礦物薄片光學(xué)特性測(cè)試方法
GB/T20307-2018:晶體材料雙折射率測(cè)量通則
GB/T19421.3-2008:層狀晶體分子取向測(cè)定法
ISO21363:2020:納米材料晶體結(jié)構(gòu)表征技術(shù)規(guī)范
1.OlympusBX53-P:配備U-CTB偏振器組,支持λ補(bǔ)償器定量測(cè)量
2.LeicaDM4P:配置LAS圖像分析模塊,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)消光角計(jì)算
3.NikonLV100ND-POL:集成DS-Fi3相機(jī)系統(tǒng),支持500萬(wàn)像素?cái)?shù)字成像
4.ZeissAxioImagerM2m:搭配CRYSTAL偏振組件,雙折射率測(cè)量精度達(dá)0.0003
5.KeyenceVHX-7000:具備3D偏振成像功能,最大放大倍數(shù)5000X
6.HitachiTM4000-POL:臺(tái)式電鏡聯(lián)用系統(tǒng),支持微區(qū)應(yīng)力分析
7.BrukerContourGT-X3:白光偏振干涉儀,表面粗糙度檢測(cè)分辨率0.1nm
8.ShimadzuAIM-9000:高溫偏振模塊工作溫度范圍25-1500℃
9.AgilentCary7000:全自動(dòng)紫外-可見(jiàn)偏振光譜系統(tǒng)
10.MalvernMorphologi4-POL:集成激光散射的顆粒形貌分析系統(tǒng)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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