參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.絕緣電阻測(cè)試：500VDC條件下≥100MΩ（GB/T16927.1-2011）
2.工頻耐壓試驗(yàn)：2kV/1min無(wú)擊穿（IEC60664-1:2020）
3.溫升試驗(yàn)：額定電流下導(dǎo)電部件溫升≤65K（GB/T14048.1-2020）
4.機(jī)械壽命測(cè)試：≥10,000次分合操作（GB/T14048.4-2020）
5.接觸電阻測(cè)量：≤50μΩ（ASTMB539-20）

檢測(cè)范圍

1.陶瓷基座材料：Al?O?含量≥95%的耐電弧基體
2.銅合金觸頭：CuCr25/CuBiTe系列合金成分分析
3.工程塑料外殼：PA66+30%GF阻燃等級(jí)V0驗(yàn)證
4.彈簧機(jī)構(gòu)組件：60Si2MnA彈簧鋼疲勞強(qiáng)度測(cè)試
5.接線(xiàn)端子鍍層：錫鍍層厚度≥8μm（ISO2177:2016）

檢測(cè)方法

1.絕緣性能測(cè)試：依據(jù)GB/T16927.1-2011《高電壓試驗(yàn)技術(shù)》進(jìn)行階梯升壓法
2.溫升試驗(yàn)：采用熱電偶法測(cè)量觸頭溫度（IEC60943:1998）
3.機(jī)械操作試驗(yàn)：按GB/T14048.4-2020配置專(zhuān)用操作機(jī)構(gòu)模擬實(shí)際工況
4.X射線(xiàn)熒光分析：執(zhí)行ISO3497:2000進(jìn)行鍍層厚度無(wú)損檢測(cè)
5.鹽霧腐蝕試驗(yàn)：參照GB/T2423.17-2008進(jìn)行96小時(shí)中性鹽霧測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

1.Chroma19032高壓絕緣測(cè)試儀：輸出0-5kV可調(diào)直流電壓
2.Mikro-OhmMTC-10回路電阻測(cè)試儀：分辨率0.1μΩ
3.FLIRT865熱成像儀：熱靈敏度≤40mK@30℃
4.Zwick/RoellZ100萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：載荷精度0.5%
5.ESPECPL-3KGS恒溫恒濕箱：溫度范圍-70℃~150℃
6.OlympusVanta手持式XRF分析儀：元素檢測(cè)范圍Mg-U
7.HIOKIPW3390功率分析儀：基本精度0.06%
8.KikusuiTOS9200耐壓測(cè)試儀：漏電流分辨率0.01mA
9.SCHENCKFSA-CM機(jī)械壽命試驗(yàn)臺(tái)：最大操作頻率120次/分鐘
10.Q-LabQ-FOGCCT鹽霧箱：符合ASTMB117-19標(biāo)準(zhǔn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)