參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.二階非線性極化率(χ)：測量范圍10?~10??m/V，波長覆蓋400-1600nm
2.三階非線性折射率(n?)：精度5%，測試強(qiáng)度閾值＞1GW/cm
3.雙光子吸收系數(shù)(β)：動(dòng)態(tài)范圍0.01-10cm/GW，重復(fù)頻率1kHz-80MHz
4.自聚焦臨界功率(Pcr)：測量誤差＜3%，空間分辨率1μm
5.光克爾效應(yīng)響應(yīng)時(shí)間：時(shí)間分辨率150fs，溫度控制0.5℃

檢測范圍

1.鈮酸鋰(LiNbO?)、磷酸鈦氧鉀(KTP)等非線性晶體
2.GaAs、ZnSe等III-V族半導(dǎo)體材料
3.聚二乙炔(PDA)、偶氮苯聚合物等有機(jī)材料
4.量子點(diǎn)/石墨烯復(fù)合納米材料
5.硫系玻璃光纖(As?S?、Ge-Sb-Se體系)

檢測方法

1.Z掃描法：依據(jù)ISO13695:2019光學(xué)非線性測量標(biāo)準(zhǔn)
2.四波混頻法：執(zhí)行ASTME2175-01(2020)測試規(guī)程
3.Maker條紋法：符合GB/T31227-2014晶體參數(shù)測試規(guī)范
4.超連續(xù)譜分析法：參照IEC62878-2:2019光子器件標(biāo)準(zhǔn)
5.泵浦探測法：采用GB/T39143-2020超快光學(xué)測量要求

檢測設(shè)備

1.CoherentAstrella飛秒激光器：波長調(diào)節(jié)范圍690-1040nm，脈寬＜35fs
2.AndoAQ6317B光譜分析儀：分辨率0.05nm，波長精度0.02nm
3.ThorlabsPM320E功率計(jì)：量程50nW-2W，線性度0.8%
4.Newport1918-R光強(qiáng)衰減器：衰減范圍0-60dB，精度0.05dB
5.HamamatsuC10910D條紋相機(jī)：時(shí)間分辨率200fs，光譜響應(yīng)300-1600nm
6.KeysightN9020B信號(hào)分析儀：帶寬44GHz，相位噪聲-140dBc/Hz
7.OphirPD300-UV光電探測器：響應(yīng)時(shí)間＜1ns，損傷閾值3J/cm
8.PIS-340高速位移臺(tái)：定位精度50nm，重復(fù)性15nm
9.Agilent4294A阻抗分析儀：頻率范圍40Hz-110MHz，基本精度0.08%
10.LabsphereLMS-760積分球：直徑75mm，反射率＞98%

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)