參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.純度分析：Rb?O≥99.5%（主成分定量）
2.雜質(zhì)元素檢測(cè)：Na/K/Ca/Fe≤50ppm（ICP-OES法）
3.晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD衍射角偏差≤0.02
4.粒度分布測(cè)試：D50=1-5μm（激光衍射法）
5.熱穩(wěn)定性評(píng)估：TG-DSC失重率≤0.5%（800℃恒溫）

檢測(cè)范圍

1.電子陶瓷基材（微波介質(zhì)材料）
2.光學(xué)玻璃添加劑（折射率調(diào)節(jié)劑）
3.固體催化劑載體（合成氨催化劑）
4.單晶生長原料（鈮酸鋰晶體摻雜劑）
5.高純?cè)噭?9.99%級(jí)分析純產(chǎn)品）

檢測(cè)方法

1.ASTME1584-17《標(biāo)準(zhǔn)火花原子發(fā)射光譜法》
2.ISO11885:2007《水質(zhì)-電感耦合等離子體發(fā)射光譜法》
3.GB/T23274-2009《二氧化鈦類物質(zhì)中雜質(zhì)元素測(cè)定》
4.JISK0115:2021《X射線熒光光譜分析通則》
5.GB/T19587-2017《氣體吸附BET法比表面積測(cè)定》

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificARLPERFORM'XX射線熒光光譜儀（元素定量）
2.PerkinElmerOptima8300ICP-OES（痕量元素分析）
3.MalvernMastersizer3000激光粒度儀（粒徑分布測(cè)試）
4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)解析）
5.NetzschSTA449F3同步熱分析儀（熱穩(wěn)定性評(píng)估）
6.Agilent7890B氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（有機(jī)雜質(zhì)篩查）
7.Metrohm905Titrando自動(dòng)電位滴定儀（酸堿度測(cè)定）
8.ShimadzuUV-2600i紫外可見分光光度計(jì)（吸光度分析）
9.MicromeriticsASAP2460比表面及孔隙度分析儀（比表面積測(cè)定）
10.JEOLJSM-IT800掃描電子顯微鏡（微觀形貌觀測(cè)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)