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充填孔檢測(cè)

2025-05-22 關(guān)鍵詞:充填孔測(cè)試范圍,充填孔測(cè)試儀器,充填孔測(cè)試周期 相關(guān):
充填孔檢測(cè)

充填孔檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.孔徑尺寸偏差:測(cè)量實(shí)際孔徑與設(shè)計(jì)值的差異范圍(0.05mm)2.孔深一致性:驗(yàn)證軸向深度公差(0.1mm)3.位置精度:三維坐標(biāo)偏差≤0.15mm4.表面粗糙度:Ra值控制在0.8-3.2μm區(qū)間5.填充材料密實(shí)度:孔隙率≤1.5%檢測(cè)范圍1.金屬鑄件(鋁合金/鎂合金壓鑄件)2.塑料注塑成型件(PA66/PC材質(zhì))3.復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件(碳纖維增強(qiáng)聚合物)4.陶瓷燒結(jié)件(氧化鋁/氮化硅基材)5.橡膠密封件(EPDM/氟橡膠制品)檢測(cè)方法1.光學(xué)影像測(cè)量法:依據(jù)ISO1101:2017幾何公差標(biāo)準(zhǔn)2

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑尺寸偏差:測(cè)量實(shí)際孔徑與設(shè)計(jì)值的差異范圍(0.05mm)
2.孔深一致性:驗(yàn)證軸向深度公差(0.1mm)
3.位置精度:三維坐標(biāo)偏差≤0.15mm
4.表面粗糙度:Ra值控制在0.8-3.2μm區(qū)間
5.填充材料密實(shí)度:孔隙率≤1.5%

檢測(cè)范圍

1.金屬鑄件(鋁合金/鎂合金壓鑄件)
2.塑料注塑成型件(PA66/PC材質(zhì))
3.復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件(碳纖維增強(qiáng)聚合物)
4.陶瓷燒結(jié)件(氧化鋁/氮化硅基材)
5.橡膠密封件(EPDM/氟橡膠制品)

檢測(cè)方法

1.光學(xué)影像測(cè)量法:依據(jù)ISO1101:2017幾何公差標(biāo)準(zhǔn)
2.X射線斷層掃描:執(zhí)行ASTME1695-20缺陷分析規(guī)范
3.超聲波探傷法:符合GB/T11345-2013焊縫檢測(cè)要求
4.三維坐標(biāo)測(cè)量:采用GB/T16857.2-2017驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
5.金相顯微分析:參照ASTME3-11制樣規(guī)程

檢測(cè)設(shè)備

1.OLYMPUSDSX1000數(shù)碼顯微鏡(2000倍放大倍率)
2.ZEISSMETROTOM1500工業(yè)CT系統(tǒng)(4μm體素分辨率)
3.MITUTOYOSJ-410表面粗糙度儀(16nm測(cè)量精度)
4.HEXAGONGlobalS07.10.07三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(0.9+L/350μm精度)
5.PANalyticalEmpyreanXRD衍射儀(0.0001角度分辨率)
6.KEYENCEVHX-7000超景深顯微鏡(5000萬(wàn)像素CMOS)
7.OLYMPUSEPOCH650超聲探傷儀(100MHz采樣頻率)
8|Instron5985萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)(0.5%載荷精度)
9|ThermoScientificARLEQUINOX1000XRF光譜儀
10|BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀(0.01nm垂直分辨率)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

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