參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.電阻率測(cè)定：測(cè)量范圍110^-8~110²Ωm（四探針?lè)?范德堡法）
2.載流子濃度分析：精度5%（霍爾效應(yīng)測(cè)試儀）
3.遷移率計(jì)算：溫度范圍77K~300K（變溫磁場(chǎng)系統(tǒng)）
4.塞貝克系數(shù)：分辨率0.1μV/K（溫差電動(dòng)勢(shì)測(cè)量）
5.熱導(dǎo)率測(cè)試：穩(wěn)態(tài)法精度3%，激光閃射法5%

檢測(cè)范圍

1.銅基合金（C19400/C7025等電子銅帶）
2.鋁合金導(dǎo)體（1350/6201系列電工鋁材）
3.貴金屬鍍層（金/銀觸點(diǎn)鍍層厚度≥0.05μm）
4.半導(dǎo)體金屬化層（Al/TiW/Cu薄膜結(jié)構(gòu)）
5.納米金屬?gòu)?fù)合材料（AgNWs透明導(dǎo)電薄膜）

檢測(cè)方法

ASTMB193-20導(dǎo)電材料電阻率標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ISO11801-2:2023通信電纜金屬導(dǎo)體性能規(guī)范
GB/T12966-2022鋁合金電導(dǎo)率渦流檢測(cè)方法
IEC60468:2021金屬材料電阻率測(cè)量程序
GB/T351-2019金屬材料室溫電阻試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

1.KEITHLEY2450四探針電阻測(cè)試系統(tǒng)（10nΩ~100MΩ量程）
2.LakeShore8404系列霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)（1.5T超導(dǎo)磁體）
3.NetzschLFA467激光導(dǎo)熱分析儀（-120C~500C溫控）
4.LinseisLSR-3塞貝克系數(shù)測(cè)定儀（ΔT=0~50K可調(diào)）
5.FischerSigmascopeSMP350渦流電導(dǎo)儀（非破壞性檢測(cè)）
6.AgilentB1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（pA級(jí)電流分辨率）
7.OxfordInstrumentsTeslatronPT低溫恒溫器（1.5K~300K）
8.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（薄膜結(jié)構(gòu)分析）
9.ZEM-3熱電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)（同步測(cè)量S/σ/κ值）
10.VeecoDektakXT臺(tái)階儀（膜厚測(cè)量精度0.5nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)