參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.反向擊穿電壓（V_BR）：測試范圍0-200V0.5%，擊穿電流閾值設(shè)定1μA
2.結(jié)電容（C_j）：測量頻率1MHz5kHz，電壓偏置0-30V可調(diào)
3.品質(zhì)因數(shù)（Q值）：頻率范圍100kHz-1GHz，測試電壓5Vrms
4.溫度特性：-55℃~+150℃溫控箱內(nèi)測試電容溫度系數(shù)α_C≤50ppm/℃
5.漏電流（I_R）：反向電壓V_R=75%V_BR時測量值≤10nA

檢測范圍

1.硅基超突變結(jié)變?nèi)荻O管（如BBY系列）
2.GaAs微波變?nèi)荻O管（MA/COMMA46系列）
3.表面貼裝（SMD）微型變?nèi)莨埽↗DV2S系列）
4.高溫應(yīng)用陶瓷封裝器件（工作溫度≥175℃）
5.光控變?nèi)荻O管（光敏電容調(diào)節(jié)范圍≥3:1）

檢測方法

1.IEC60747-1半導(dǎo)體器件通用測試規(guī)范
2.GB/T4937-2012半導(dǎo)體器件機械和環(huán)境試驗方法
3.MIL-STD-750F方法1037反向特性測試
4.JEDECJESD22-A108E溫度循環(huán)試驗
5.ASTMF358-18(2023)微波器件參數(shù)測量規(guī)程

檢測設(shè)備

1.KeysightB1505A功率器件分析儀：支持2000V/1000A脈沖測試
2.Agilent4294A精密阻抗分析儀：40Hz-110MHz頻段C-V特性測量
3.TemptronicTP04300熱流儀：-70℃~+225℃快速溫變控制
4.R&SZNB40矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：10MHz-40GHzS參數(shù)測試
5.Keithley2636B源表：100fA分辨率漏電流檢測
6.ESPECSH-642恒溫恒濕箱：0.5℃溫控精度
7.TektronixDPO7254示波器：2.5GHz帶寬瞬態(tài)響應(yīng)分析
8.Chroma19053耐壓測試儀：AC/DC5kV絕緣強度驗證
9.AdvantestU3741LCR表：0.05%基本精度電容測量
10.ThermonicsT-3000C真空探針臺：10^-6Torr環(huán)境參數(shù)測試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準測試：嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)