參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.純度分析：SnO?含量≥99.9%，采用差減法計(jì)算雜質(zhì)總量
2.晶型結(jié)構(gòu)：四方相金紅石型占比≥98%，半峰寬≤0.15
3.粒徑分布：D10≤30nm，D50=50-200nm，D90≤500nm（激光粒度儀）
4.比表面積：BET法測(cè)定3-50m/g（氮?dú)馕剑?br/>5.雜質(zhì)元素：Fe≤50ppm,Cu≤20ppm,Pb≤10ppm（ICP-MS定量限0.01ppm）

檢測(cè)范圍

1.電子陶瓷材料：壓敏電阻器、熱敏電阻基體
2.透明導(dǎo)電薄膜：ITO靶材前驅(qū)體
3.鋰離子電池負(fù)極材料：SnO?/C復(fù)合材料
4.催化劑載體：V?O?/SnO?脫硝催化劑
5.玻璃涂層材料：Low-E玻璃功能層

檢測(cè)方法

1.XRD物相分析：ASTME3061-17《X射線衍射定量相分析》
2.化學(xué)滴定法：GB/T23274.1-2009《二氧化錫化學(xué)分析方法》
3.激光粒度分析：ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
4.BET比表面測(cè)試：GB/T19587-2017《氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積》
5.ICP-OES/MS檢測(cè)：GB/T36244-2018《無機(jī)化工產(chǎn)品金屬雜質(zhì)測(cè)定》

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線衍射儀（BrukerD8Advance）：物相鑒定與晶型定量
2.電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（PerkinElmerOptima8300）：金屬雜質(zhì)定量
3.激光粒度分析儀（MalvernMastersizer3000）：粒徑分布測(cè)試
4.比表面及孔隙度分析儀（MicromeriticsASAP2460）：BET比表面測(cè)定
5.熱重分析儀（TAInstrumentsTGA550）：灼燒減量及熱穩(wěn)定性測(cè)試
6.場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FEINovaNanoSEM450）：微觀形貌觀測(cè)
7.X射線熒光光譜儀（ShimadzuEDX-7000）：主量元素快速篩查
8.原子力顯微鏡（BrukerDimensionIcon）：表面粗糙度分析
9.紫外可見分光光度計(jì)（AgilentCary5000）：光學(xué)透過率測(cè)試
10.四探針電阻儀（Loresta-GPMCP-T610）：薄膜方阻測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)