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入瞳檢測

2025-05-23 關(guān)鍵詞:入瞳測試標(biāo)準(zhǔn),入瞳測試案例,入瞳項目報價 相關(guān):
入瞳檢測

入瞳檢測摘要:檢測項目1.入瞳直徑測量:精度0.01mm,測量范圍Φ2-200mm2.入瞳位置公差:軸向偏差≤0.05mm,徑向偏移≤0.03mm3.邊緣陡度分析:過渡區(qū)斜率≥85,邊界清晰度誤差<3μm4.表面粗糙度檢測:Ra≤0.02μm(ISO10110-8標(biāo)準(zhǔn))5.透射波前差:PV值≤λ/4@632.8nm(ISO14999-4規(guī)范)檢測范圍1.光學(xué)鏡頭:包含單透鏡、變焦鏡頭組、非球面鏡等2.激光器組件:光纖耦合器、準(zhǔn)直器輸出端面3.顯微成像系統(tǒng):生物顯微鏡物鏡、共聚焦掃描模塊4.投影顯示器件:DLP芯片微鏡陣

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.入瞳直徑測量:精度0.01mm,測量范圍Φ2-200mm
2.入瞳位置公差:軸向偏差≤0.05mm,徑向偏移≤0.03mm
3.邊緣陡度分析:過渡區(qū)斜率≥85,邊界清晰度誤差<3μm
4.表面粗糙度檢測:Ra≤0.02μm(ISO10110-8標(biāo)準(zhǔn))
5.透射波前差:PV值≤λ/4@632.8nm(ISO14999-4規(guī)范)

檢測范圍

1.光學(xué)鏡頭:包含單透鏡、變焦鏡頭組、非球面鏡等
2.激光器組件:光纖耦合器、準(zhǔn)直器輸出端面
3.顯微成像系統(tǒng):生物顯微鏡物鏡、共聚焦掃描模塊
4.投影顯示器件:DLP芯片微鏡陣列、LCOS面板
5.光電傳感器:CCD/CMOS圖像傳感器保護(hù)窗口

檢測方法

1.ASTME903-20:光譜透射比測量方法
2.ISO14999-4:2015:光學(xué)元件波前公差檢測規(guī)范
3.GB/T12085.14-2022:光學(xué)系統(tǒng)環(huán)境試驗方法
4.ISO10110-7:2017:表面缺陷公差標(biāo)注系統(tǒng)
5.GB/T7661-2009:光學(xué)零件氣泡度檢驗規(guī)程

檢測設(shè)備

1.ZygoVerifireMST干涉儀:波長632.8nm,波前測量精度λ/100
2.MitutoyoCMM-CrystaApexS坐標(biāo)測量機(jī):空間分辨率0.1μm
3.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀:垂直分辨率0.01nm
4.ThorlabsBP209-VIS/M光束分析儀:探測面陣20482048像素
5.OlympusMX63金相顯微鏡:5000倍光學(xué)放大帶激光共聚焦模塊
6.AgilentCary7000紫外可見分光光度計:波長范圍190-3300nm
7.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡:3D景深合成分辨率0.1μm
8.Newport1918-C光功率計:量程10pW-3W,精度0.5%
9.OptikosLensCheckMTF測試儀:空間頻率0-200lp/mm
10.ZeissO-Inspect多傳感器測量系統(tǒng):復(fù)合式影像+接觸式探測

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析入瞳檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師

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