參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.鍍層厚度測(cè)量：X射線熒光法（XRF）測(cè)量范圍0.01-50μm，誤差5%
2.附著力測(cè)試：劃格法（ASTMD3359）與剝離法（GB/T5270）定量評(píng)估結(jié)合強(qiáng)度
3.孔隙率分析：硝酸蒸汽暴露法（ISO4524-2）測(cè)定單位面積微孔數(shù)量
4.成分分析：EDS能譜儀測(cè)定元素含量偏差≤0.5wt%
5.表面粗糙度：白光干涉儀Ra值測(cè)量精度0.01μm

檢測(cè)范圍

1.金屬基材鍍層：鋼鐵件鍍鋅/鎳/鉻層（厚度5-30μm）
2.電子元件鍍層：PCB金手指鍍金層（0.05-0.2μm）
3.汽車零部件：鋁合金輪轂陽極氧化膜（10-25μm）
4.醫(yī)療器械：鈦合金植入物羥基磷灰石涂層（50-200μm）
5.航空航天部件：鎳基高溫合金熱障涂層（100-500μm）

檢測(cè)方法

1.ASTMB487-20：橫截面金相法測(cè)厚（精度0.1μm）
2.ISO4524-2:2000：電鍍銀層孔隙率硝酸試驗(yàn)法
3.GB/T6462-2021：金屬覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法
4.ASTMB762-90(2021)：電沉積鍍層X射線熒光測(cè)厚規(guī)程
5.GB/T17721-1999：金屬覆蓋層孔隙率評(píng)定鐵試劑法

檢測(cè)設(shè)備

1.FischerXDV-μX射線測(cè)厚儀：分辨率0.001μm，適用多層鍍層分析
2.Elcometer506機(jī)械劃格器：符合ISO2409標(biāo)準(zhǔn)劃格間距1/2/3mm
3.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：三維表面粗糙度測(cè)量精度0.1nm
4.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：EDS元素分析精度0.1%
5.QNix4500渦流測(cè)厚儀：非破壞測(cè)量鋁基陽極氧化膜
6.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：觸針式測(cè)量Ra/Rz/Rt參數(shù)
7.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF：多元素同步分析系統(tǒng)
8.ZeissAxioImagerM2m金相顯微鏡：5000倍率涂層截面觀測(cè)
9.PARSTAT4000電化學(xué)工作站：極化曲線法評(píng)估耐蝕性
10.KeyenceVHX-7000數(shù)碼顯微鏡：3D表面形貌重建功能

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)