加熱程度檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.溫度均勻性:測(cè)量表面與內(nèi)部溫差≤2℃(ASTME230/E230M)2.熱傳導(dǎo)系數(shù):測(cè)定范圍0.1-400W/(mK)(ISO22007-2)3.相變臨界點(diǎn):記錄Ac1/Ac3溫度偏差≤5℃(GB/T13320)4.氧化增重率:高溫下單位面積質(zhì)量變化≤0.5mg/cm(GB/T13303)5.殘余應(yīng)力分布:三維應(yīng)力場(chǎng)測(cè)量精度10MPa(ASTME837)6.晶粒生長指數(shù):金相分析晶粒度等級(jí)判定(ISO643)檢測(cè)范圍1.金屬材料:鈦合金鍛件(最高1200℃)、不銹鋼焊接件2.高分子材料:注塑成
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.溫度均勻性:測(cè)量表面與內(nèi)部溫差≤2℃(ASTME230/E230M)
2.熱傳導(dǎo)系數(shù):測(cè)定范圍0.1-400W/(mK)(ISO22007-2)
3.相變臨界點(diǎn):記錄Ac1/Ac3溫度偏差≤5℃(GB/T13320)
4.氧化增重率:高溫下單位面積質(zhì)量變化≤0.5mg/cm(GB/T13303)
5.殘余應(yīng)力分布:三維應(yīng)力場(chǎng)測(cè)量精度10MPa(ASTME837)
6.晶粒生長指數(shù):金相分析晶粒度等級(jí)判定(ISO643)
1.金屬材料:鈦合金鍛件(最高1200℃)、不銹鋼焊接件
2.高分子材料:注塑成型件(PP/ABS)、碳纖維復(fù)合材料
3.陶瓷制品:氧化鋁基板燒結(jié)體、氮化硅結(jié)構(gòu)件
4.電子元件:PCB板回流焊過程、芯片封裝熱應(yīng)力
5.食品加工設(shè)備:殺菌釜溫度場(chǎng)驗(yàn)證、烘箱熱分布測(cè)試
1.ASTME1461-13:激光閃射法測(cè)定熱擴(kuò)散率
2.ISO11357-3:2018:差示掃描量熱法(DSC)相變分析
3.GB/T4338-2006:金屬材料高溫拉伸試驗(yàn)規(guī)程
4.ASTMC1046-95(2020):紅外熱像儀表面溫度測(cè)繪
5.GB/T1735-2009:漆膜耐熱性測(cè)定(鼓風(fēng)烘箱法)
6.ISO17662:2016:焊接過程溫度場(chǎng)校準(zhǔn)規(guī)范
1.FlukeTiX580紅外熱像儀:640480分辨率,-25~1500℃量程
2.NetzschLFA467HyperFlash:激光閃射導(dǎo)熱分析儀
3.Instron6800系列萬能試驗(yàn)機(jī):配備1000℃高溫爐
4.TAInstrumentsQ20差示掃描量熱儀:-90~750℃控溫
5.OlympusGX53金相顯微鏡:帶高溫原位觀察模塊
6.KeysightDAQ970A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng):128通道熱電偶輸入
7.Elcometer456涂層測(cè)厚儀:耐高溫探頭(最高500℃)
8.HuksefluxSBG01熱流傳感器:量程200kW/m
9.ThermoScientificARLEQUINOX3000XRD:高溫相變分析
10.EspecPL-3KPH環(huán)境試驗(yàn)箱:程序控溫速率30℃/min
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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