參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.礦物成分分析：采用X射線衍射（XRD）測(cè)定主次礦物種類及含量占比（精度0.1%）
2.元素定量檢測(cè)：通過(guò)X射線熒光光譜（XRF）分析Fe、Cu、Au等30+元素含量（檢出限0.01%-10%）
3.物理性質(zhì)測(cè)試：包含密度測(cè)量（精度0.01g/cm）、莫氏/維氏硬度分級(jí)（載荷50g-10kg）
4.微觀結(jié)構(gòu)表征：使用偏光顯微鏡觀察礦物顆粒形態(tài)及共生關(guān)系（放大倍數(shù)50-1000倍）
5.放射性檢測(cè)：γ能譜儀測(cè)定鈾系/釷系核素活度（探測(cè)限0.1Bq/g）

檢測(cè)范圍

1.金屬礦石類：鐵礦石（磁鐵礦/赤鐵礦）、銅礦石（黃銅礦/斑銅礦）、金礦石等
2.非金屬礦石類：石英巖、長(zhǎng)石礦、云母片巖等工業(yè)原料
3.稀有礦石類：鋰輝石、鈮鉭鐵礦、稀土礦物等戰(zhàn)略資源
4.能源礦石類：鈾礦（瀝青鈾礦/鈣鈾云母）、油頁(yè)巖等
5.寶石原石類：剛玉族礦物（紅寶石/藍(lán)寶石）、綠柱石族礦物（祖母綠）等

檢測(cè)方法

1.ASTMD7348-13《礦石樣品制備標(biāo)準(zhǔn)指南》規(guī)范制樣流程
2.ISO22262-2:2014《礦物識(shí)別-X射線衍射定量分析方法》
3.GB/T17412-1998《巖石分類和命名方案》巖礦鑒定基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
4.GB11847-2015《鈾礦石中鈾的測(cè)定》電位滴定法技術(shù)要求
5.JISM8100:2015《塊狀礦石化學(xué)分析通則》元素測(cè)試通則

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線衍射儀：BrukerD8ADVANCE型，配備LynxEye陣列探測(cè)器
2.波長(zhǎng)色散XRF光譜儀：RigakuZSXPrimusIV，可測(cè)Be-U元素
3.顯微硬度計(jì)：WilsonWolpert2100B型，支持HV/HK雙標(biāo)尺
4.γ能譜儀：ORTECDetective-DX100HPGe高純鍺探測(cè)器
5.偏光顯微鏡：LeicaDM2700P透反射兩用系統(tǒng)
6.激光剝蝕系統(tǒng)：ESINWR213與ICP-MS聯(lián)用進(jìn)行微區(qū)分析
7.真密度儀：MicromeriticsAccuPycII1340氦氣置換法裝置
8.TESCANTIMA-X礦物自動(dòng)分析系統(tǒng)：集成SEM-EDS聯(lián)用技術(shù)
9.高溫?zé)嶂胤治鰞x：NETZSCHSTA449F3同步熱分析儀
10.紅外光譜儀：ThermoNicoletiS50FTIR礦物官能團(tuán)鑒定

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)