參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.純度測(cè)定：主成分RbF含量≥99.9%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），采用差減法計(jì)算雜質(zhì)總量
2.水分含量：游離水≤50ppm（卡爾費(fèi)休法），結(jié)晶水≤0.1%（熱重分析法）
3.金屬雜質(zhì)分析：Na≤100ppm、K≤200ppm、Ca≤50ppm（ICP-MS法）
4.粒度分布：D50值3-5μm（激光衍射法），D90≤10μm
5.晶體結(jié)構(gòu)分析：立方晶系（空間群Fm-3m），晶格常數(shù)a=5.640.02（XRD法）

檢測(cè)范圍

1.高純氟化銣原料（純度≥99.99%）
2.光學(xué)鍍膜用RbF靶材（密度≥3.0g/cm）
3.核工業(yè)中子屏蔽材料（硼當(dāng)量≥0.5%）
4.鋰電池電解質(zhì)添加劑（Cl?含量≤10ppm）
5.單晶生長(zhǎng)用RbF前驅(qū)體（位錯(cuò)密度≤10/cm）

檢測(cè)方法

1.ASTME1479-16《電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定高純化學(xué)品中痕量元素》
2.ISO21258:2010《固體材料中固定源X射線衍射定量分析》
3.GB/T6283-2008《化工產(chǎn)品中水分含量的測(cè)定卡爾費(fèi)休法》
4.GB/T19077-2016《粒度分析激光衍射法》
5.ISO16258-1:2015《工作場(chǎng)所空氣中可吸入結(jié)晶二氧化硅的X射線衍射分析》

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：痕量金屬元素分析（檢出限0.01ppb）
2.MalvernMastersizer3000：激光粒度分析儀（測(cè)量范圍0.01-3500μm）
3.BrukerD8ADVANCEXRD：Cu靶X射線源（2θ范圍5-140）
4.MettlerToledoTGA/DSC3+：同步熱分析儀（溫度范圍25-1600℃）
5.Metrohm917Coulometer：庫(kù)侖法水分測(cè)定儀（分辨率0.1μgH?O）
6.PerkinElmerLambda950UV-Vis：紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)（波長(zhǎng)175-3300nm）
7.Agilent7890BGC-MS：氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（EI源70eV）
8.ShimadzuEDX-8000：能量色散X熒光光譜儀（Na-U元素分析）
9.JEOLJSM-7900F：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（分辨率0.8nm@15kV）
10.HoribaLabRAMHREvolution：拉曼光譜儀（532nm激光器）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)