參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.衰減系數(shù)：850nm窗口≤3.0dB/km，1300nm窗口≤1.5dB/km
2.幾何參數(shù)：芯徑公差3μm，包層直徑75015μm
3.抗拉強(qiáng)度：短期≥40N，長期≥20N
4.彎曲損耗：15mm彎曲半徑下附加損耗≤0.2dB
5.溫度循環(huán)：-40℃~+70℃循環(huán)后衰減變化≤0.1dB/km

檢測范圍

1.PMMA基漸變折射率全塑光纖
2.氟化聚合物耐高溫光纖
3.多芯并行傳輸特種光纖
4.PE/PVC護(hù)套復(fù)合結(jié)構(gòu)光纜
5.抗輻射改性聚碳酸酯光纖

檢測方法

1.ISO11801:2017《光纜傳輸特性測試規(guī)范》
2.IEC60793-2-40:2021《光纖第2-40部分：產(chǎn)品規(guī)范-A4類多模光纖》
3.ASTMD3039/D3039M-17《聚合物基復(fù)合材料拉伸性能標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
4.GB/T15972.20-2008《光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第20部分：尺寸參數(shù)的測量》
5.GB/T7424.2-2008《光纜環(huán)境性能試驗(yàn)方法》

檢測設(shè)備

1.EXFOFTB-200光時(shí)域反射儀（OTDR）：動(dòng)態(tài)范圍45dB@850nm
2.MitutoyoLSM-9000激光掃描顯微鏡：分辨率0.01μm
3.Instron3345萬能材料試驗(yàn)機(jī)：載荷精度0.5%
4.ThermotronST-402溫濕度試驗(yàn)箱：溫度波動(dòng)0.5℃
5.EXFOFOT-930光纖彎曲損耗測試儀：曲率半徑調(diào)節(jié)范圍5-30mm
6.Agilent86100D寬帶光源分析系統(tǒng)：波長范圍600-1700nm
7.OlympusBX53工業(yè)顯微鏡：500倍數(shù)字成像系統(tǒng)
8.AnritsuMP2100B誤碼率測試儀：速率10Mb/s~12.5Gb/s

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)