參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.外徑尺寸測(cè)量：公差范圍0.001mm~0.1mm
2.內(nèi)徑尺寸驗(yàn)證：精度等級(jí)IT5~IT8
3.圓度誤差分析：允許偏差0.002mm~0.05mm
4.同心度檢測(cè)：基準(zhǔn)軸偏移量≤0.015mm
5.圓柱度評(píng)定：全行程誤差≤0.03mm/100mm

檢測(cè)范圍

1.金屬加工件：軸承套圈、齒輪坯件等回轉(zhuǎn)體零件
2.注塑制品：O型密封圈模腔、瓶口螺紋底模
3.陶瓷元件：絕緣套管、精密軸套
4.光學(xué)器件：透鏡固定環(huán)、濾光片基座
5.3D打印部件：金屬粉末燒結(jié)成型件

檢測(cè)方法

1.ISO1101:2017幾何公差規(guī)范
2.GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定
3.ASTME2919-19三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)
4.GB/T3177-2009產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)光滑工件尺寸的檢驗(yàn)
5.ISO/TR14638:2015GPS綜合基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

1.MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：空間精度(1.9+L/250)μm
2.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：徑向分辨率0.8nm
3.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)：光學(xué)+接觸式復(fù)合探測(cè)
4.KeyenceIM-8000系列影像測(cè)量?jī)x：雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)1μm重復(fù)性
5.HexagonAbsoluteArm7軸測(cè)量臂：便攜式激光掃描直徑測(cè)量
6.NikonNEXIVVMZ-S6550光學(xué)投影儀：500倍放大直徑比對(duì)測(cè)量
7.MahrFederalMillimarC1216氣動(dòng)量?jī)x：孔徑測(cè)量分辨率0.1μm
8.RenishawEquator比對(duì)儀：車間級(jí)快速直徑篩查系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)