參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.粒徑分布：D10/D50/D90值測量（0.1nm-100μm范圍）
2.表面電荷密度：Zeta電位測定（200mV量程）
3.元素組成：EDS能譜分析（Be-O窗口元素）
4.晶體結(jié)構(gòu)：XRD半峰寬計算（2θ=5-90）
5.熱穩(wěn)定性：TGA失重曲線（RT-1200℃）

檢測范圍

1.納米復(fù)合陶瓷材料（Al?O?-ZrO?體系）
2.高分子-無機雜化膜（PVDF-SiO?復(fù)合膜）
3.鋰離子電池電極復(fù)合材料（NMC三元材料）
4.金屬基復(fù)合涂層（WC-Co硬質(zhì)合金）
5.醫(yī)用高分子緩釋微粒（PLGA載藥微球）

檢測方法

1.ASTME2865-12(2020)動態(tài)光散射法測定納米顆粒尺寸
2.ISO22412:2017粒度分析-激光衍射法
3.GB/T19077-2016粒度分布-激光衍射法
4.ISO13067:2020微束分析-背散射電子衍射法
5.GB/T30704-2014X射線衍射定量相分析

檢測設(shè)備

1.馬爾文帕納科ZetasizerNanoZS（動態(tài)光散射/電泳光散射）
2.布魯克DimensionIcon原子力顯微鏡（納米級形貌表征）
3.日立SU8010場發(fā)射掃描電鏡（5nm分辨率成像）
4.珀金埃爾默STA8000同步熱分析儀（TGA/DSC聯(lián)用）
5.島津XRD-7000X射線衍射儀（θ-θ測角儀結(jié)構(gòu)）
6.安捷倫8900ICP-MS（ppt級元素檢測）
7.麥克奇爾米Multisizer4e庫爾特計數(shù)器（0.4-1600μm測量）
8.沃特世ACQUITYAPC系統(tǒng)（亞微米粒度分析）
9.FEITalosF200X透射電鏡（STEM模式成分分析）
10.耐馳LFA467激光導(dǎo)熱儀（熱擴散系數(shù)測定）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)