法珀二氏激光器檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.波長(zhǎng)穩(wěn)定性:0.02nm(25℃1℃恒溫條件下連續(xù)工作8小時(shí))2.閾值電流:5-50mA(依據(jù)器件規(guī)格分級(jí)測(cè)試)3.輸出功率均勻性:0.5dB(額定電流下多點(diǎn)采樣)4.邊模抑制比(SMSR):≥35dB(1550nm波段)5.溫度漂移系數(shù):≤0.08nm/℃(-40℃至+85℃溫循測(cè)試)檢測(cè)范圍1.III-V族半導(dǎo)體激光芯片(GaAs/InP基材)2.分布式反饋(DFB)激光模塊3.光纖布拉格光柵(FBG)耦合器件4.光通信系統(tǒng)發(fā)射單元(10G/25G/100G速率等級(jí))5.高精度光譜校準(zhǔn)用參
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.波長(zhǎng)穩(wěn)定性:0.02nm(25℃1℃恒溫條件下連續(xù)工作8小時(shí))
2.閾值電流:5-50mA(依據(jù)器件規(guī)格分級(jí)測(cè)試)
3.輸出功率均勻性:0.5dB(額定電流下多點(diǎn)采樣)
4.邊模抑制比(SMSR):≥35dB(1550nm波段)
5.溫度漂移系數(shù):≤0.08nm/℃(-40℃至+85℃溫循測(cè)試)
1.III-V族半導(dǎo)體激光芯片(GaAs/InP基材)
2.分布式反饋(DFB)激光模塊
3.光纖布拉格光柵(FBG)耦合器件
4.光通信系統(tǒng)發(fā)射單元(10G/25G/100G速率等級(jí))
5.高精度光譜校準(zhǔn)用參考光源
1.ASTME275-08(2021):激光功率測(cè)量不確定度評(píng)估規(guī)范
2.ISO11146-1:2021:激光束寬度與發(fā)散角測(cè)試方法
3.GB/T15175-2012:固體激光器主要參數(shù)測(cè)試方法
4.IEC60825-1:2014:激光產(chǎn)品安全等級(jí)分類
5.GB/T31359-2015:半導(dǎo)體激光器光電特性測(cè)量規(guī)范
1.YokogawaAQ6370D光譜分析儀:0.02nm分辨率波長(zhǎng)測(cè)量
2.ThorlabsPM320E熱電堆功率計(jì):10nW-10W寬量程功率檢測(cè)
3.KeysightN7788B偏振分析儀:SOP與DOP參數(shù)測(cè)試
4.TektronixDPO73304S示波器:30GHz帶寬眼圖分析
5.Agilent81600B可調(diào)諧激光源:波長(zhǎng)校準(zhǔn)參考源
6.NewportILXLightwaveLDT-5948溫控平臺(tái):0.1℃控溫精度
7.EXFOIQS-52400BER測(cè)試系統(tǒng):誤碼率性能驗(yàn)證
8.AdvantestQ8384光波元件分析儀:頻率響應(yīng)特性測(cè)試
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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