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三態(tài)邏娟電路檢測

2025-05-26 關(guān)鍵詞:三態(tài)邏娟電路測試機(jī)構(gòu),三態(tài)邏娟電路測試標(biāo)準(zhǔn),三態(tài)邏娟電路測試周期 相關(guān):
三態(tài)邏娟電路檢測

三態(tài)邏娟電路檢測摘要:檢測項(xiàng)目1.輸入/輸出電壓閾值:高電平≥2.0V@Vcc=3.3V5%,低電平≤0.8V@Vcc=3.3V5%2.傳輸延遲時(shí)間:tPLH≤5ns/tPHL≤5ns@CL=50pF3.高阻態(tài)漏電流:Ioz≤10μA@Vcc=5.0V10%4.動態(tài)功耗:ICC≤15mA@f=100MHz5.噪聲容限:VNH≥0.4V/VNL≥0.4V@25℃檢測范圍1.TTL系列三態(tài)緩沖器(74LS241/244)2.CMOS三態(tài)門電路(CD4503/74HC125)3.ECL高速三態(tài)器件(MC10H125)4.FPGA可編

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.輸入/輸出電壓閾值:高電平≥2.0V@Vcc=3.3V5%,低電平≤0.8V@Vcc=3.3V5%
2.傳輸延遲時(shí)間:tPLH≤5ns/tPHL≤5ns@CL=50pF
3.高阻態(tài)漏電流:Ioz≤10μA@Vcc=5.0V10%
4.動態(tài)功耗:ICC≤15mA@f=100MHz
5.噪聲容限:VNH≥0.4V/VNL≥0.4V@25℃

檢測范圍

1.TTL系列三態(tài)緩沖器(74LS241/244)
2.CMOS三態(tài)門電路(CD4503/74HC125)
3.ECL高速三態(tài)器件(MC10H125)
4.FPGA可編程三態(tài)IO模塊
5.ASIC定制化三態(tài)總線驅(qū)動器

檢測方法

1.GB/T17574-2021半導(dǎo)體器件通用規(guī)范第3章
2.IEC60747-4:2019分立器件測試方法
3.ASTMF1241-22數(shù)字集成電路動態(tài)參數(shù)測試規(guī)程
4.ISO11452-8:2020汽車電子抗干擾測試
5.JESD22-A114F靜電放電敏感度分級

檢測設(shè)備

1.KeysightInfiniiVisionMSOX4104A示波器(4GHz帶寬)
2.TektronixAFG31000系列任意波形發(fā)生器(1GHz輸出)
3.Keithley2636B雙通道源表(10A脈沖電流)
4.Chroma3380P功率分析儀(0.05%精度)
5.ESPECPL-3KPH溫度沖擊箱(-70℃~180℃)
6.EMTESTUCS500N6抗擾度測試系統(tǒng)
7.AgilentE4980AL精密LCR表(20Hz-2MHz)
8.AdvantestT2000混合信號測試機(jī)
9.Fluke8846A六位半數(shù)字萬用表
10.HIOKIIM3590阻抗分析儀(10μΩ分辨率)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析三態(tài)邏娟電路檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師

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