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指中間紋檢測(cè)

2025-05-26 關(guān)鍵詞:指中間紋測(cè)試周期,指中間紋測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),指中間紋測(cè)試機(jī)構(gòu) 相關(guān):
指中間紋檢測(cè)

指中間紋檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.紋路間距測(cè)量:精度0.1μm,測(cè)量范圍0.5-2.0mm2.紋路深度分析:分辨率10nm級(jí)臺(tái)階儀測(cè)試3.紋路角度偏差:采用電子傾轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)量0.5誤差4.分布均勻性指數(shù):基于ISO25178的Sa/Sq參數(shù)計(jì)算5.連續(xù)性缺陷識(shí)別:最小檢出缺陷尺寸50μm50μm檢測(cè)范圍1.金屬材料:冷軋鋼板/鋁箔/銅合金沖壓件2.高分子材料:注塑成型ABS/PC塑料件3.陶瓷材料:氧化鋯基板/碳化硅密封環(huán)4.復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹脂層壓板5.表面處理層:PVD鍍膜刀具/DLC涂層軸承檢測(cè)方法1.ASTME3-

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.紋路間距測(cè)量:精度0.1μm,測(cè)量范圍0.5-2.0mm

2.紋路深度分析:分辨率10nm級(jí)臺(tái)階儀測(cè)試

3.紋路角度偏差:采用電子傾轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)量0.5誤差

4.分布均勻性指數(shù):基于ISO25178的Sa/Sq參數(shù)計(jì)算

5.連續(xù)性缺陷識(shí)別:最小檢出缺陷尺寸50μm50μm

檢測(cè)范圍

1.金屬材料:冷軋鋼板/鋁箔/銅合金沖壓件

2.高分子材料:注塑成型ABS/PC塑料件

3.陶瓷材料:氧化鋯基板/碳化硅密封環(huán)

4.復(fù)合材料:碳纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹脂層壓板

5.表面處理層:PVD鍍膜刀具/DLC涂層軸承

檢測(cè)方法

1.ASTME3-11金相試樣制備與觀察規(guī)范

2.ISO4287:1997表面粗糙度輪廓法測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

3.GB/T3488.2-2018硬質(zhì)合金金相檢驗(yàn)方法

4.ISO25178-2:2021三維表面紋理參數(shù)化表征

5.GB/T10610-2009產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法

檢測(cè)設(shè)備

1.BrukerContourGT-X8三維光學(xué)輪廓儀:非接觸式形貌重建

2.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡:5000倍超景深觀察

3.ZeissAxioImager.M2m金相顯微鏡:微分干涉對(duì)比功能

4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡:120nm橫向分辨率

5.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀:16mm量程輪廓掃描

6.ThermoScientificApreoSEM掃描電鏡:1nm分辨率表面成像

7.NikonXTH450工業(yè)CT系統(tǒng):三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)無損檢測(cè)

8.ShimadzuHMV-G21顯微硬度計(jì):紋路邊緣力學(xué)性能測(cè)試

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析指中間紋檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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