參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.平均灰度值：測量范圍為0-255（8bit系統(tǒng)），精度0.5級
2.灰度均勻性：區(qū)域偏差≤3%，采用九宮格分區(qū)法
3.對比度分辨率：可識別最小密度差0.02D
4.灰階線性度：γ值偏差范圍0.05
5.噪聲水平：RMS噪聲≤1.5%（@50%灰度）

檢測范圍

1.醫(yī)用X光膠片（CR/DR系統(tǒng)）
2.工業(yè)射線探傷底片（ASTME94標準）
3.數(shù)碼成像傳感器（CMOS/CCD）
4.印刷品網(wǎng)點密度（ISO13655標準）
5.顯示屏面板（醫(yī)療級DICOM校準）

檢測方法

1.ASTME2590-22《射線底片均勻性測試規(guī)程》
2.ISO15739:2023《電子成像噪聲測量方法》
3.GB/T18833-2021《交JianCe志逆反射系數(shù)測試》
4.IEC62629-41-1:2020《顯示器灰階性能評估》
5.GB/T21350-2022《無損檢測射線照相底片質(zhì)量要求》

檢測設(shè)備

1.X-Ritei1Pro3分光光度計：光譜范圍380-730nm
2.KonicaMinoltaCS-2000A成像色度計：精度0.002D
3.VictoreenModel07-649密度計：量程0-4.5D
4.FLIRSC7000紅外熱像儀：NETD＜18mK
5.EizoCG319X校準顯示器：DICOMGSDF兼容
6.ImageEngineeringIQ-LABPro分析軟件：支持ISO15739算法
7.PTWDiaSim多功能模體：含21級灰階模塊
8.HologicQRMA-M多用途測試卡：符合

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)