參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.沉降速率測定：記錄0-3600秒內(nèi)顆粒層高度變化（精度0.01mm）
2.粒徑分布遷移：采用動態(tài)光散射測量0.3nm-10μm粒徑變化
3.Zeta電位監(jiān)測：測試范圍200mV（25℃恒溫條件）
4.絮凝指數(shù)計算：基于透光率變化建立Turbiscan穩(wěn)定性指數(shù)
5.固液界面張力：測量精度達0.1mN/m（Wilhelmy板法）

檢測范圍

1.金屬粉末冶金原料（鈦粉/鎢粉/316L不銹鋼粉）
2.陶瓷漿料體系（氧化鋁/碳化硅/氮化硅懸浮液）
3.鋰離子電池電極漿料（石墨/鈷酸鋰/NCM三元材料）
4.納米藥物載體（脂質(zhì)體/聚合物膠束/二氧化硅納米粒）
5.工業(yè)廢水絮凝體系（PAC/PAM復(fù)合混凝系統(tǒng)）

檢測方法

ASTMB822-20金屬粉末粒度分布激光衍射法
ISO13318-2:2007離心沉降法測定顆粒尺寸分布
GB/T19077-2016粒度分析激光衍射法
ISO13099-3:2014膠體體系Zeta電位電泳光散射法
GB/T39689-2020表面活性劑溶液穩(wěn)定性測試規(guī)程

檢測設(shè)備

1.馬爾文Mastersizer3000：干濕兩用激光粒度儀（0.01-3500μm）
2.布魯克D8ADVANCE：原位XRD沉降分析系統(tǒng)（CuKα輻射）
3.PSSNicomp380ZLS：動態(tài)/靜態(tài)光散射聯(lián)用儀（溫度控制0.1℃）
4.KRUSSK100SF：全自動表面張力儀（最大壓力2000mN/m）
5.QuantachromeAutosorb-iQ：氣體吸附法比表面測定儀（孔徑0.35-500nm）
6.HORIBASZ-100Z：納米顆粒Zeta電位分析儀（pH范圍2-12）
7.LUMiSizer651：加速離心穩(wěn)定性分析儀（2300倍重力加速）
8.TAInstrumentsAR2000ex：流變-沉降同步分析儀（剪切速率0.01-1000s?）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)