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臨界點(diǎn)蝕溫度檢測(cè)

2025-05-26 關(guān)鍵詞:臨界點(diǎn)蝕溫度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),臨界點(diǎn)蝕溫度測(cè)試周期,臨界點(diǎn)蝕溫度測(cè)試方法 相關(guān):
臨界點(diǎn)蝕溫度檢測(cè)

臨界點(diǎn)蝕溫度檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.臨界點(diǎn)蝕溫度值測(cè)定:溫度范圍-20℃至150℃,精度0.5℃2.溫度梯度控制測(cè)試:梯度速率0.5-5℃/min3.腐蝕介質(zhì)濃度分析:Cl?濃度0.1-6.0mol/L4.極化曲線掃描:掃描速率0.166-1mV/s5.表面點(diǎn)蝕密度統(tǒng)計(jì):SEM成像分辨率3nm檢測(cè)范圍1.奧氏體不銹鋼(316L/304/254SMO)2.鎳基合金(Inconel625/C276/HastelloyB3)3.鈦及鈦合金(Gr2/Gr5/Ti-6Al-4V)4.雙相不銹鋼(2205/2507/S32750)5.工業(yè)設(shè)

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.臨界點(diǎn)蝕溫度值測(cè)定:溫度范圍-20℃至150℃,精度0.5℃
2.溫度梯度控制測(cè)試:梯度速率0.5-5℃/min
3.腐蝕介質(zhì)濃度分析:Cl?濃度0.1-6.0mol/L
4.極化曲線掃描:掃描速率0.166-1mV/s
5.表面點(diǎn)蝕密度統(tǒng)計(jì):SEM成像分辨率3nm

檢測(cè)范圍

1.奧氏體不銹鋼(316L/304/254SMO)
2.鎳基合金(Inconel625/C276/HastelloyB3)
3.鈦及鈦合金(Gr2/Gr5/Ti-6Al-4V)
4.雙相不銹鋼(2205/2507/S32750)
5.工業(yè)設(shè)備組件(換熱器管束/反應(yīng)釜內(nèi)襯/海水閥門)

檢測(cè)方法

1.ASTMG48-11(2020):三氯化鐵溶液浸泡法
2.ISO15324:2020:電化學(xué)極化法
3.GB/T17897-2016:恒電位階梯升溫法
4.GB/T17899-2021:動(dòng)電位掃描法
5.ASTMG150-18:臨界點(diǎn)蝕溫度電化學(xué)測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

1.PARSTAT4000電化學(xué)工作站:支持10μA-2A電流量程
2.ThermoScientificHeratherm烘箱:溫控精度0.1℃
3.ZEISSEVOMA15掃描電鏡:配備EDS能譜模塊
4.Metrohm905Titrando自動(dòng)滴定儀:分辨率0.01mL
5.MettlerToledoSevenExcellencepH計(jì):精度0.001pH
6.GamryInterface5000E恒電位儀:最大輸出電壓32V
7.MemmertUN110環(huán)境箱:濕度控制范圍20-98%RH
8.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀:角度重復(fù)性0.0001
9.KeyenceVHX-7000數(shù)碼顯微鏡:5000倍光學(xué)放大
10.HachDR3900分光光度計(jì):波長范圍190-1100nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析臨界點(diǎn)蝕溫度檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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