參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.數(shù)值孔徑（NA）測(cè)量：范圍0.8-1.40.02@633nm波長(zhǎng)

2.工作距離校準(zhǔn)：誤差≤5μm（標(biāo)稱值0.1-0.3mm）

3.透射率測(cè)試：可見光波段（400-700nm）透過率≥95%

4.波前像差分析：RMS值≤λ/10@546.1nm

5.浸液兼容性測(cè)試：折射率匹配偏差≤0.001（水/油介質(zhì)）

6.表面粗糙度檢測(cè)：Ra≤1nm@1010μm掃描區(qū)域

檢測(cè)范圍

1.高折射率光學(xué)玻璃（n≥1.7）制備的油浸物鏡

2.氟化鈣晶體紅外物鏡（工作波段2-5μm）

3.水浸式生物顯微物鏡（WD≥0.15mm）

4.半導(dǎo)體封裝用硅油浸沒物鏡

5.低溫冷凍電鏡專用液氮兼容物鏡

檢測(cè)方法

ASTME2101-00(2021)：光學(xué)元件透射率測(cè)試規(guī)程

ISO9335:2012：光學(xué)系統(tǒng)像差評(píng)估方法

GB/T26331-2010：顯微鏡物鏡數(shù)值孔徑測(cè)量規(guī)范

ISO10934:2020：浸液折射率匹配度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T7661-2009：光學(xué)零件表面粗糙度接觸式測(cè)量法

檢測(cè)設(shè)備

ZygoVerifireXP/D激光干涉儀：波前像差測(cè)量精度λ/1000

OlympusUIS2物鏡測(cè)試臺(tái)：支持NA值自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)

PerkinElmerLambda1050+紫外可見分光光度計(jì)：光譜分辨率0.05nm

BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：表面粗糙度測(cè)量重復(fù)性0.1nm

LeicaDMi8倒置顯微鏡平臺(tái)：集成浸液循環(huán)溫控系統(tǒng)

NikonNIS-ElementsC顯微圖像分析系統(tǒng)：支持Zernike多項(xiàng)式像差分解

Agilent5500原子力顯微鏡：三維形貌掃描精度0.01nm

SUSSMicroTecPM8掩模對(duì)準(zhǔn)儀：用于浸液界面接觸角測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)