參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑偏差：測(cè)量實(shí)際孔徑與設(shè)計(jì)值的差異范圍（0.05mm~0.3mm）
2.孔間距精度：相鄰孔中心距誤差（0.1mm~0.5mm）
3.同心度偏差：多級(jí)孔軸線偏移量（≤Φ0.08mm）
4.垂直度誤差：孔軸線與基準(zhǔn)面的角度偏差（≤0.05）
5.表面粗糙度：孔壁Ra值（0.4μm~3.2μm）

檢測(cè)范圍

1.金屬鑄件：發(fā)動(dòng)機(jī)缸體/變速箱殼體
2.注塑成型件：電子連接器/汽車內(nèi)飾件
3.復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件：航空翼肋/衛(wèi)星支架
4.PCB電路板：通孔/盲孔定位
5.精密模具：注塑模芯/壓鑄模腔

檢測(cè)方法

ASTME2919-22非接觸式光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
ISO10360-7:2018坐標(biāo)測(cè)量機(jī)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
GB/T1800.1-2020產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）極限與配合
GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差
ASMEB89.4.10360.2-2008坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)性能評(píng)價(jià)

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalS系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：空間精度1.9μm+L/250
2.MitutoyoCrysta-ApexS三坐標(biāo)儀：配備RENISHAWSP25M掃描探頭
3.GOMATOSQ三維激光掃描系統(tǒng)：?jiǎn)畏鶞y(cè)量精度8μm
4.KeyenceIM-8000圖像尺寸測(cè)量?jī)x：重復(fù)精度0.6μm
6.FAROLaserTrackerVantage：最大測(cè)距80m,角度精度15μm+6μm/m
7.ZeissO-INSPECT復(fù)合式測(cè)量機(jī)：光學(xué)+接觸式復(fù)合探測(cè)系統(tǒng)
8.OlympusIPLEXGLite工業(yè)內(nèi)窺鏡：直徑3.4mm,景深10-50mm
9.MarSurfLD260輪廓儀：粗糙度測(cè)量范圍Ra0.02-50μm
10.CreaformHandySCANBlackElite手持掃描儀：體積精度0.025mm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)