參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.卡方值（χ）：計(jì)算觀(guān)測(cè)頻數(shù)與期望頻數(shù)的偏離程度
2.自由度（df）：基于行列維度確定統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)參數(shù)
3.期望頻數(shù)（ExpectedFrequency）：要求單元格期望值≥5的比例≥80%
4.校正連續(xù)性（Yates'Correction）：針對(duì)22列聯(lián)表的連續(xù)性修正
5.效應(yīng)量指標(biāo)：Cramer'sV系數(shù)（0-1區(qū)間）、Phi系數(shù)（二分類(lèi)專(zhuān)用）

檢測(cè)范圍

1.金屬材料晶粒度等級(jí)與力學(xué)性能關(guān)聯(lián)分析
2.高分子材料耐候性等級(jí)與化學(xué)結(jié)構(gòu)分類(lèi)研究
3.電子元件失效模式與工作環(huán)境溫度關(guān)聯(lián)驗(yàn)證
4.紡織品色牢度等級(jí)與染料類(lèi)型相關(guān)性測(cè)試
5.食品添加劑使用量與微生物污染風(fēng)險(xiǎn)關(guān)聯(lián)評(píng)估

檢測(cè)方法

1.ISO16269-6:2014《統(tǒng)計(jì)解釋-第6部分：統(tǒng)計(jì)容忍區(qū)間的確定》
2.ASTME2586-19《計(jì)算概率分布的統(tǒng)計(jì)公差限》
3.GB/T4883-2008《數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理和解釋正態(tài)性檢驗(yàn)》
4.GB/T3358.1-2009《統(tǒng)計(jì)學(xué)詞匯及符號(hào)第1部分：一般統(tǒng)計(jì)術(shù)語(yǔ)》
5.ISO2854:1976《統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的解釋-均值與方差的估計(jì)和檢驗(yàn)》

檢測(cè)設(shè)備

1.ZEISSAxioImagerA2m金相顯微鏡：微觀(guān)結(jié)構(gòu)定量分析
2.ShimadzuEDX-7000X射線(xiàn)熒光光譜儀：元素成分快速測(cè)定
3.Instron5969萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：力學(xué)性能精確測(cè)試
4.ThermoScientificMultiskanSkyHigh酶標(biāo)儀：生物樣本高通量分析
5.Agilent8890氣相色譜儀：有機(jī)物成分分離定量
6.MettlerToledoXPR205DR精密天平：試樣質(zhì)量精確稱(chēng)量
7.Q-LabQUV/spray紫外老化箱：材料耐候性加速測(cè)試
8.OlympusBX53M工業(yè)顯微鏡：表面缺陷形態(tài)學(xué)分析
9.BrukerD8ADVANCEX射線(xiàn)衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)特征解析
10.HORIBALA-960激光粒度儀：顆粒分布統(tǒng)計(jì)學(xué)表征

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)