參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.表面粗糙度（Ra）：測量范圍0.01-100μm，分辨率0.001μm
2.紋理深度（Rz）：計(jì)算最大峰谷高度差，適用ISO4287標(biāo)準(zhǔn)
3.波紋度（Wt）：評估波長0.8-10mm的周期性起伏
4.峰頂密度（Sm）：統(tǒng)計(jì)單位長度內(nèi)輪廓峰數(shù)量
5.各向異性系數(shù)（Str）：量化紋理方向性特征

檢測范圍

1.金屬軋制板材：冷軋鋼板/鋁板表面織構(gòu)分析
2.工程塑料件：注塑成型件流痕紋路檢測
3.陶瓷基復(fù)合材料：燒結(jié)表面晶粒定向排列評估
4.光學(xué)鍍膜基材：納米級拋光面微觀起伏測量
5.增材制造部件：3D打印層間熔合線形貌表征

檢測方法

1.接觸式測量：執(zhí)行GB/T10610-2009標(biāo)準(zhǔn)，使用半徑2μm金剛石探針
2.白光干涉法：依據(jù)ISO25178-2進(jìn)行三維形貌重建
3.激光共聚焦：按ASTME1817獲取亞微米級Z軸分辨率
4.SEM圖像分析：參照GB/T23414-2009計(jì)算微區(qū)紋理參數(shù)
5.EBSD定向測試：基于ISO24173標(biāo)準(zhǔn)解析晶體學(xué)織構(gòu)

檢測設(shè)備

1.TaylorHobsonSurtonicS128：接觸式輪廓儀，量程500μm
2.BrukerContourGT-X8：白光干涉三維顯微鏡，橫向分辨率0.1μm
3.KeyenceVR-5000：激光共聚焦掃描系統(tǒng)，Z軸重復(fù)精度3nm
4.OlympusLEXTOLS5000：3D激光顯微鏡，1200萬像素CCD
5.ZeissSigma500：場發(fā)射掃描電鏡，配備OxfordEBSD探測器
6.MitutoyoSJ-411：便攜式粗糙度儀，符合JISB0601標(biāo)準(zhǔn)
7.NanoveaST400：非接觸式三維輪廓儀，最大掃描面積200200mm
8.AliconaInfiniteFocusG5：高景深光學(xué)測量系統(tǒng)，垂直分辨率10nm
9.HitachiTM4000Plus：桌面電鏡系統(tǒng)，二次電子成像模式
10.PolytecMSA-600：微系統(tǒng)分析儀，振動補(bǔ)償式納米測量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)