參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.矢量幅值精度：測(cè)量范圍0.01-1000W/m，分辨率0.5%FS
2.方向角偏差：角度測(cè)量精度0.1，重復(fù)性誤差≤0.05
3.頻率響應(yīng)特性：覆蓋DC-40GHz頻段，相位噪聲≤-120dBc/Hz
4.空間分布均勻性：掃描步長(zhǎng)0.1mm，定位精度5μm
5.動(dòng)態(tài)響應(yīng)時(shí)間：上升時(shí)間≤10ns，采樣率1GS/s

檢測(cè)范圍

1.金屬基復(fù)合材料：包括鋁碳化硅、銅鎢合金等散熱基板
2.高分子絕緣材料：PTFE、PI薄膜等高頻介質(zhì)基材
3.電子封裝材料：EMI屏蔽膠、導(dǎo)熱硅脂等界面材料
4.微波器件組件：波導(dǎo)濾波器、天線輻射單元等
5.熱管理系統(tǒng)：液冷板、均溫板等相變傳熱裝置

檢測(cè)方法

1.ASTME2105-00(2021)：采用紅外熱像法測(cè)定熱流密度矢量分布
2.ISO22007-4:2017：瞬態(tài)平面熱源法測(cè)量各向異性材料導(dǎo)熱系數(shù)
3.GB/T17626.3-2016：射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)方法
4.IEC61000-4-8:2009：工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試規(guī)范
5.GB/T2423.22-2012：溫度變化試驗(yàn)中的熱傳導(dǎo)特性評(píng)估

檢測(cè)設(shè)備

1.FLIRA655sc紅外熱像儀：640480分辨率，測(cè)溫范圍-40℃~2000℃
2.KeysightN5227B網(wǎng)絡(luò)分析儀：10MHz至67GHz頻段矢量分析
3.AnritsuMA24507A場(chǎng)強(qiáng)探頭：100kHz至60GHz三維場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量
4.TAInstrumentsDHR-20旋轉(zhuǎn)流變儀：扭矩分辨率0.1nNm
5.NetzschLFA467HyperFlash：激光閃射法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
6.OphirPD300-3W光功率計(jì)：300mW至3W功率測(cè)量范圍
7.Agilent34972A數(shù)據(jù)采集器：22位分辨率，3通道同步采樣
8.BrukerContourGT-X3光學(xué)輪廓儀：垂直分辨率0.1nm
9.ThermoScientificCLIMACELL環(huán)境箱：溫控精度0.3℃
10.PolytecPSV-500掃描式激光測(cè)振儀：50MHz帶寬振動(dòng)分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)