參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：SrO含量（45-48%）、ZrO?含量（50-53%）、雜質(zhì)元素（Fe≤0.02%、Al≤0.01%）
2.晶體結(jié)構(gòu)分析：立方相/四方相比例（XRD半定量≥95%）、晶格常數(shù)（a=4.150.02）
3.粒度分布：D50粒徑（1-5μm）、比表面積（3-8m/g）
4.熱穩(wěn)定性測(cè)試：熱膨脹系數(shù)（8.5-9.510??/℃）、相變溫度（≥1300℃）
5.介電性能：介電常數(shù)（ε=28-32@1MHz）、損耗角正切值（tanδ≤0.002）

檢測(cè)范圍

1.電子陶瓷材料：MLCC介質(zhì)層、壓電傳感器基體
2.高溫結(jié)構(gòu)陶瓷：航空發(fā)動(dòng)機(jī)熱障涂層、核反應(yīng)堆內(nèi)襯
3.催化劑載體：甲烷重整反應(yīng)器載體基材
4.光學(xué)鍍膜材料：紅外窗口增透膜層
5.固體氧化物燃料電池電解質(zhì)材料

檢測(cè)方法

1.GB/T14506.30-2019《硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法》第30部分：ICP-OES測(cè)定鍶鋯比
2.ASTME975-20《X射線衍射定量相分析標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐》
3.ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
4.GB/T7320-2018《耐火材料熱膨脹試驗(yàn)方法》
5.IEC61189-3-719:2021《電子材料介電性能測(cè)試方法》

檢測(cè)設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：物相鑒定與晶體結(jié)構(gòu)解析
2.PerkinElmerOptima8300電感耦合等離子體光譜儀：元素定量分析
3.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：粒徑分布測(cè)定
4.NetzschSTA449F5同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用熱穩(wěn)定性測(cè)試
5.AgilentE4991B阻抗分析儀：介電性能表征（10Hz-3GHz）
6.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：微觀形貌觀測(cè)（分辨率1nm）
7.BrukerD8ADVANCEX射線熒光光譜儀：快速成分篩查
8.MitutoyoSJ-410表面粗糙度儀：涂層表面質(zhì)量評(píng)估
9.LinselsL75/1400高溫膨脹儀：線性熱膨脹系數(shù)測(cè)定（RT-1600℃）
10.KeysightB1505A功率器件分析儀：漏電流特性測(cè)試（1000V）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)