參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.主量元素含量分析：SiO?、Al?O?、Fe?O?等氧化物占比測(cè)定（精度0.5wt%）
2.微量元素分布檢測(cè)：Li、Be、Rb等痕量元素濃度測(cè)定（檢出限0.1-10ppm）
3.同位素比值測(cè)定：δ?O、δD等同位素分餾系數(shù)計(jì)算（精度0.1‰）
4.礦物相組成鑒定：XRD半定量分析（角度范圍5-80，步長(zhǎng)0.02）
5.微觀結(jié)構(gòu)表征：孔隙率（0.1-500μm孔徑分布）、晶粒尺寸（10nm-100μm測(cè)量范圍）

檢測(cè)范圍

1.火山成因噴出巖：玄武巖、安山巖等巖漿冷凝產(chǎn)物
2.工業(yè)高溫熔融物：冶金爐渣、玻璃窯爐廢料
3.人工合成噴出模擬材料：高溫高壓反應(yīng)釜制備樣品
4.地?zé)嵯到y(tǒng)沉積物：硅華、硫化物結(jié)殼
5.撞擊熔融產(chǎn)物：隕石沖擊玻璃、熔融角礫巖

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（ASTMD5381/GB/T14506.30-2019）
2.電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ISO17294-2/GB/T36244-2018）
3.穩(wěn)定同位素質(zhì)譜分析法（ISO3074/GB/T18340.2-2016）
4.X射線衍射全譜擬合法（ISO20203/GB/T23413-2022）
5.掃描電鏡能譜聯(lián)用技術(shù)（ASTME1508/GB/T17359-2023）

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificARLPERFORM'XX射線熒光光譜儀（波長(zhǎng)色散型）
2.PerkinElmerNexION350D電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（四極桿質(zhì)量分析器）
3.ThermoFisherDeltaVAdvantage穩(wěn)定同位素比質(zhì)譜儀（雙路進(jìn)樣系統(tǒng)）
4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（Cu靶Kα輻射源）
5.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（分辨率1nm@15kV）
6.MalvernMastersizer3000激光粒度儀（測(cè)量范圍0.01-3500μm）
7.Agilent7900ICP-MS（串聯(lián)質(zhì)譜碰撞反應(yīng)池技術(shù)）
8.LeicaDM2700P偏光顯微鏡（透反射雙模式觀測(cè)）
9.NetzschSTA449F3同步熱分析儀（TG-DSC同步測(cè)量）
10.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微系統(tǒng)（三維表面形貌重建）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)