外巖漿礦床檢測摘要:檢測項(xiàng)目1.礦物組成分析:采用X射線衍射(XRD)測定輝石、橄欖石等硅酸鹽礦物含量,精度0.5%2.主微量元素含量測定:通過X射線熒光光譜(XRF)與電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)分析Ni、Cu、Pt等20+元素,檢出限0.01ppm3.硫同位素比值測定:使用氣體質(zhì)譜儀測定δ?S值,分辨率0.01‰4.礦石結(jié)構(gòu)表征:掃描電子顯微鏡(SEM)觀測硫化物顆粒分布及嵌布特征5.物理性質(zhì)測試:密度測量范圍2.8-5.2g/cm,硬度測試采用莫氏標(biāo)度檢測范圍1.巖漿型銅鎳硫化物礦石(如金川式礦床)2.鉑族金屬
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.礦物組成分析:采用X射線衍射(XRD)測定輝石、橄欖石等硅酸鹽礦物含量,精度0.5%
2.主微量元素含量測定:通過X射線熒光光譜(XRF)與電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)分析Ni、Cu、Pt等20+元素,檢出限0.01ppm
3.硫同位素比值測定:使用氣體質(zhì)譜儀測定δ?S值,分辨率0.01‰
4.礦石結(jié)構(gòu)表征:掃描電子顯微鏡(SEM)觀測硫化物顆粒分布及嵌布特征
5.物理性質(zhì)測試:密度測量范圍2.8-5.2g/cm,硬度測試采用莫氏標(biāo)度
1.巖漿型銅鎳硫化物礦石(如金川式礦床)
2.鉑族金屬(PGM)礦石(含鉑、鈀、銠等)
3.鉻鐵礦層狀礦床(Cr?O?含量≥18%)
4.釩鈦磁鐵礦復(fù)合礦體(TiO?≥8%,V?O?≥0.3%)
5.稀土元素賦存型堿性巖體(LREE/HREE比值>5)
1.ASTME1915-11:X射線熒光光譜法測定硫化物中主量元素
2.ISO15587-1:密閉消解制備ICP-MS測試溶液
3.GB/T17413.1-2010:巖石中稀土元素化學(xué)分析方法
4.GB/T14506.30-2010:硅酸鹽巖石化學(xué)分析規(guī)程
5.ISO17294-2:2016:水質(zhì)-電感耦合等離子體質(zhì)譜應(yīng)用指南
6.ASTMD7928-21:掃描電鏡能譜定量分析標(biāo)準(zhǔn)
1.RigakuSmartLabX射線衍射儀:9kW旋轉(zhuǎn)陽極靶,2θ角范圍5-140
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:質(zhì)量范圍2-270amu,檢出限≤0.1ppt
3.BrukerS8TIGERXRF光譜儀:4kWRh靶管,可測元素B-Am
4.ThermoScientificMAT253穩(wěn)定同位素質(zhì)譜儀:δ值測量精度0.02‰
5.ZeissEVOMA15掃描電鏡:分辨率3nm@30kV,配備牛津能譜儀
6.MettlerToledoXS205密度計(jì):稱量精度0.01mg/密度精度0.0001g/cm
7.BuehlerWilsonVH1150硬度計(jì):洛氏/維氏/布氏三用測試頭
8.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀:溫度范圍RT-1500℃
9.MalvernMastersizer3000激光粒度儀:測量范圍0.01-3500μm
10.Agilent7900ICP-MS/MS:MS/MS模式消除質(zhì)譜干擾
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析外巖漿礦床檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
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