參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.礦物組成分析：采用X射線衍射（XRD）測定輝石、橄欖石等硅酸鹽礦物含量，精度0.5%
2.主微量元素含量測定：通過X射線熒光光譜（XRF）與電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）分析Ni、Cu、Pt等20+元素，檢出限0.01ppm
3.硫同位素比值測定：使用氣體質(zhì)譜儀測定δ?S值，分辨率0.01‰
4.礦石結(jié)構(gòu)表征：掃描電子顯微鏡（SEM）觀測硫化物顆粒分布及嵌布特征
5.物理性質(zhì)測試：密度測量范圍2.8-5.2g/cm，硬度測試采用莫氏標(biāo)度

檢測范圍

1.巖漿型銅鎳硫化物礦石（如金川式礦床）
2.鉑族金屬（PGM）礦石（含鉑、鈀、銠等）
3.鉻鐵礦層狀礦床（Cr?O?含量≥18%）
4.釩鈦磁鐵礦復(fù)合礦體（TiO?≥8%，V?O?≥0.3%）
5.稀土元素賦存型堿性巖體（LREE/HREE比值＞5）

檢測方法

1.ASTME1915-11：X射線熒光光譜法測定硫化物中主量元素
2.ISO15587-1：密閉消解制備ICP-MS測試溶液
3.GB/T17413.1-2010：巖石中稀土元素化學(xué)分析方法
4.GB/T14506.30-2010：硅酸鹽巖石化學(xué)分析規(guī)程
5.ISO17294-2:2016：水質(zhì)-電感耦合等離子體質(zhì)譜應(yīng)用指南
6.ASTMD7928-21：掃描電鏡能譜定量分析標(biāo)準(zhǔn)

檢測設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：9kW旋轉(zhuǎn)陽極靶，2θ角范圍5-140
2.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：質(zhì)量范圍2-270amu，檢出限≤0.1ppt
3.BrukerS8TIGERXRF光譜儀：4kWRh靶管，可測元素B-Am
4.ThermoScientificMAT253穩(wěn)定同位素質(zhì)譜儀：δ值測量精度0.02‰
5.ZeissEVOMA15掃描電鏡：分辨率3nm@30kV，配備牛津能譜儀
6.MettlerToledoXS205密度計(jì)：稱量精度0.01mg/密度精度0.0001g/cm
7.BuehlerWilsonVH1150硬度計(jì)：洛氏/維氏/布氏三用測試頭
8.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀：溫度范圍RT-1500℃
9.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm
10.Agilent7900ICP-MS/MS：MS/MS模式消除質(zhì)譜干擾

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)