參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.分辨率測(cè)試：采用ISO12233標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試卡，測(cè)量極限分辨率≥120lp/mm
2.幾何畸變分析：使用網(wǎng)格標(biāo)定板量化徑向畸變≤0.15%，切向畸變≤0.08%
3.動(dòng)態(tài)范圍測(cè)試：依據(jù)GB/T13962-2009標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍≥80dB
4.色彩還原性評(píng)估：通過24色標(biāo)準(zhǔn)色卡測(cè)定ΔE值≤1.5（D65光源）
5.運(yùn)動(dòng)精度校準(zhǔn)：XYZ軸重復(fù)定位精度≤2μm（激光干涉儀測(cè)量）

檢測(cè)范圍

1.金屬結(jié)構(gòu)件：包括鋁合金框架、不銹鋼傳動(dòng)部件等機(jī)械組件
2.光學(xué)成像系統(tǒng)：含CCD/CMOS傳感器、菲涅爾透鏡組及濾光片
3.電子控制系統(tǒng)：涵蓋伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)器、編碼器信號(hào)模塊
4.高分子材料部件：如聚碳酸酯防護(hù)罩、POM齒輪組
5.復(fù)合功能組件：集成式滑環(huán)模塊、多軸聯(lián)動(dòng)平臺(tái)

檢測(cè)方法

1.ASTME2544-19：全景系統(tǒng)幾何畸變校正方法
2.ISO9039-2021：光學(xué)系統(tǒng)分辨率測(cè)試規(guī)范
3.GB/T26143-2010：三維掃描設(shè)備計(jì)量特性評(píng)定
4.IEC61300-3-35:2020：光纖旋轉(zhuǎn)連接器插損測(cè)試
5.JJF1356-2012：激光跟蹤儀校準(zhǔn)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.XYZ-2000型高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（0.8μm/m）
2.SpectraScanPR-745分光光度計(jì)（380-780nm波長(zhǎng)）
3.OGPSmartScopeFlash500多傳感器測(cè)量系統(tǒng)
4.RenishawXL-80激光干涉儀（線性精度0.5ppm）
5.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡（5000倍放大）
6.FlukeTiX580紅外熱像儀（640480分辨率）
7.Bruel&Kjaer2270型聲學(xué)分析儀（20Hz-20kHz）
8.Instron5985萬能材料試驗(yàn)機(jī)（300kN載荷）
9.Agilent34461A六位半數(shù)字萬用表
10.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式測(cè)量站

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)