參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.輸入失調(diào)電壓（Vos）：測(cè)量范圍10μV至5mV，精度≤0.5%

2.開(kāi)環(huán)增益（Aol）：測(cè)試頻段10Hz-1MHz，典型值80dB至140dB

3.共模抑制比（CMRR）：測(cè)試條件Vcm=12V時(shí)≥90dB

4.電源抑制比（PSRR）：1V電源波動(dòng)下≥100dB@120Hz

5.轉(zhuǎn)換速率（SR）：測(cè)量范圍0.1V/μs至3000V/μs

6.建立時(shí)間（SettlingTime）：0.01%精度下≤500ns

7.輸入偏置電流（Ib）：測(cè)量下限達(dá)10pA級(jí)

檢測(cè)范圍

1.工業(yè)控制用精密運(yùn)放：OPA2188/AD8629系列

2.醫(yī)療設(shè)備低噪聲運(yùn)放：LT1028/AD797等型號(hào)

3.汽車(chē)級(jí)高可靠性運(yùn)放：LM2904-Q1/TLE2027系列

4.高速通信運(yùn)放：THS4631/ADA4817系列

5.高溫環(huán)境運(yùn)放：HTOP-08/MAX44250系列

檢測(cè)方法

1.IEC60748-4-3:2017《半導(dǎo)體器件-集成電路-運(yùn)算放大器測(cè)試方法》

2.GB/T4377-2018《半導(dǎo)體分立器件和集成電路試驗(yàn)方法》

3.JEDECJESD78E:2020《集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試》

4.MIL-STD-883KMETHOD3015.8《線性集成電路參數(shù)測(cè)試》

5.ISO16750-2:2012《道路車(chē)輛電氣負(fù)荷試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1.KeysightB1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀：支持nA級(jí)電流分辨率

2.TektronixMDO3054混合域示波器：帶寬500MHz/采樣率2.5GSa/s

3.Chroma33622A功率器件測(cè)試系統(tǒng)：最大輸出40V/3A

4.AdvantestR3753E高頻LCR表：頻率范圍20Hz至8MHz

5.Fluke6100B電能標(biāo)準(zhǔn)源：電壓精度0.01%rdg0.003%rg

6.AgilentN6705B直流電源分析儀：四通道獨(dú)立輸出/18bit分辨率

7.Keithley2636B源表：最小電流分辨率10fA

8.Rohde&SchwarzRTM3004示波器：16bit垂直分辨率/10GSa/s采樣率

9.ESPECPL-3KPH氣候試驗(yàn)箱：溫度范圍-70℃~+180℃

10.ThermoScientificTSQ9000質(zhì)譜儀（材料成分分析）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)