參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.尺寸精度：孔徑公差0.1mm，深度偏差≤0.2mm
2.表面粗糙度：Ra≤1.6μm（精加工面），Rz≤6.3μm（粗加工面）
3.角度偏差：相鄰面垂直度≤0.05mm/100mm
4.圓度誤差：圓柱孔圓度≤IT7級(jí)公差
5.位置度公差：多孔系中心距偏差0.05mm

檢測(cè)范圍

1.金屬鑄造箱體（鑄鐵/鑄鋁）
2.注塑成型模具型腔
3.精密機(jī)械加工夾具基座
4.航空航天鈦合金結(jié)構(gòu)件
5.汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)缸體曲軸箱

檢測(cè)方法

1.ASTME18：金屬材料洛氏硬度測(cè)試法
2.ISO1101：幾何公差標(biāo)注與驗(yàn)證規(guī)范
3.GB/T1804-2000：一般公差線性尺寸未注公差
4.ISO4287：表面粗糙度參數(shù)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
5.GB/T1958-2017：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定

檢測(cè)設(shè)備

1.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（MitutoyoCRYSTA-ApexS）：三維空間尺寸測(cè)量精度1.5μm+L/250
2.激光掃描儀（HexagonAbsoluteArm7525）：點(diǎn)云采集速率195,000點(diǎn)/秒
3.表面粗糙度儀（TaylorHobsonSurtronicS-100）：Ra測(cè)量范圍0.02-50μm
4.光學(xué)投影儀（NikonV-12B）：放大倍率50X-500X
5.圓度測(cè)量?jī)x（TaylorHobsonTalyrond385）：徑向精度0.01μm
6.超聲波測(cè)厚儀（Olympus38DLPLUS）：量程1.27-500mm
7.工業(yè)CT掃描系統(tǒng)（YxlonFF35CT）：空間分辨率3μm
8.數(shù)字式高度規(guī)（MitutoyoDigimaticHeightGauge）：分辨率0.001mm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)